请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号：LMH6321 尊敬的所有人：
在上一个帖子中、TI 代表提供了以下评论：
“VEF 引脚上的泄漏电流似乎在 ATE 上进行了+/- 23uA 的测试，典型值为75pA。”
我想问一个有关上述内容的问题。
①您能告诉我们测量上述 ATE 结果时的条件吗？
我们是否可以确认在以下条件下使用与数据表中相同的条件？
②使用上述 ATE 进行测量时、您是否测量变化的分布？ 如果是、是否可以获得变体分布？
③该 EF 引脚的泄漏电流是否随老化而增加？
如果它随时间变化、是否是由于连接到 EF 引脚的内部开关(FET)的老化？
此致、
是的、奥特伊
