请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号:OPA2192 大家好、团队、
您能否提供 有关 OPA2192IDGK 输入失调电压漂移的老化效应/长期行为的信息?
谢谢、此致、
Hans
This thread has been locked.
If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.
Hans、
OPA2192 Vos 和漂移的最大长期漂移等于数据表中指定的最大输入电压偏移和漂移(请参阅下文)。 这意味着、在25°C 下连续运行10年后、Vos 和漂移可能会翻倍、但由于最大值/最小值表示4或5 Σ 事件、实际加倍幅度的可能性非常小:225M 中的1将超出此限制(两个4 Σ 事件)。 由于长期漂移与其初始值不相关、因此更有意义的方法是将初始幅度和漂移作为矢量量量数量相加、从而实现的最大偏移 (+/-25uV*√2 =+/-35uV、最大漂移+/-1uV/C*√2 =+/-1.4uV/°C 在25°C 下运行10年后-因此、这些数字还表示4-5 Σ 事件的概率(1 in 15、000单位或1 in 1.7M 单位将分别超出此限制)。
有关此主题的更多信息、请参阅随附的长期稳定性演示文稿。