主题中讨论的其他器件: EK-TM4C1294XL、 TIDA-01159、 TIDA-01141
为什么 A1输出 需要大幅减少 的采样消隐 时间、远低于2倍奈奎斯特采样频率? 通过 2m Ω 分流电阻、20kHz PWM 信号、低侧监控器可以实现的最快奈奎斯特速率采样频率(4.1KHz)是 通过 TI 12位 MCU 嵌入 式 ADC 实现的240us @2MSPS。 以 更快的奈奎斯特频率或速率对 A1输出信号进行采样的任何尝试均会产生非常低的采样值、并且电压至电流转换非常不准确。
尝试触发 ADC PWM 脉冲宽度中点(25us)对 A1输出进行采样 只会产生非常低且不正确的 RMS 电流测量值。 我希望12位 ADC 会产生一些 SNR 误差、但不会影响奈奎斯特采样率。 据称、240 PWM 抑制瞬态输入滤波 器(按原样)可减少带谐波信号的杂散、因此 PSRR/CMRR 与数据表图保持相当一致。 请帮助我了解简单的低侧监控器如何 通过 距离 同一 PCB 电路上甚至6个240缓冲信号不到2英寸的12位 ADC 来实现出色的结果。 我不怀疑12位 ADC 或软件时序有问题、因为 示波器捕获的 GPIO 调试保持/与 PWM 25us 采样点保持一致、但 RMS 结果非常低。