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[参考译文] LMP8601-Q1:关于浪涌耐受电压

Guru**** 675400 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/814983/lmp8601-q1-about-surge-withstand-voltage

器件型号:LMP8601-Q1

您好、TI 团队

在以下所示的浪涌条件下施加的浪涌耐受电压是否受到保护?

Pulse1 Ri = 10Ω μ s TD=2ms 500PULSE Vp=-100V
Pulse1b Ri = 10Ω μ s TD=2ms 500PULSE Vp=57V
Pulse2 Ri = 2Ω μ s TD=50us 500pulse Vp=114V
Pulse3a Ri= 50Ω Δ t TD=0.1us Vp=-150V
Pulse3b Ri = 50Ω μ s TD=0.1us Vp=114V

它符合 ISO 7637-2、16750-2。
 
 
 
此致、
高志林

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    您好、Koji、

    感谢您考虑使用德州仪器。  我们正在调查您的请求、并将在明天之前向您寻求答案。

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    您好、Koji、

    通常、如果我们能够满足  ISO 7637-2、16750-2等特殊规格、我们将在数据表中这样说。  由于本数据表未提及、我认为我们不能保证您的器件能够在这些条件下正常运行。  尽管数据表未具体说明它是否符合您的标准、但如果您愿意承担风险、我们可能会推断出它是否符合您的标准。  为了推断器件性能、我认为我们可以使用 ESD 额定值表规格。  假设我正确地解释了 AEC Q100-002标准使用的 JEDEC JS-001测试条件、则电流曲线与下图类似、可以按如下方式计算功率时间乘积。  由于功率与热量相关、这很可能会破坏浪涌事件激活的 ESD 二极管、因此我认为这可能是一种合理的初步分析方法。  借助定义的上升时间、我认为您可以对您的功率时间产品进行类似的分析。  如果它们的输出电压较低、则器件可能更有可能承受。

      

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    您好、Patrick - San

    感谢您的回答。

    我的理解如下。

    不推荐用于此 IC。
    如果在此条件下使用它、则需要使用公式进行检查。
    即使计算结果中没有问题、也不能推荐将其作为 TI 产品。

    这种识别是否正确?
    此致、
    高志林
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    您好、Koji、

    是的、您的解释正确。

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    您好、Patrick-San

    感谢您的回答。

    我知道。

     

    此致、

    高志林