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[参考译文] OPA333:带隙基准电路-不良的温度瞬态行为

Guru**** 2379960 points
Other Parts Discussed in Thread: OPA333
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/800707/opa333-band-gap-reference-circuit---undesirable-temperature-transient-behavior

器件型号:OPA333

您好!

我正在围绕 OPA333开发带隙基准(BGR)电路(请查找附件以了解电路详细信息)。 好消息是、当测试电路进行实际温度测试时、它的温漂与 TINA TI 仿真得出的温漂几乎相同。 但这仅适用于稳态。 由于存在温度瞬变(斜坡)、BGR 输出在新温度下稳定之前具有较大的摆幅。 还附加了测试数据。 目前、我将电路作为原型构建在 vero 板上(另请查找电路图像)

我可以采取任何措施来消除不必要的瞬态行为。 任何抬头都值得赞赏

谢谢、

Kavindu

  

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    您好 Kavindu、

    众所周知、带隙基准仅在所有涉及的晶体管位于同一裸片上且始终能看到完全相同的温度时才能正常工作。 您可以为您的电路使用 PNP 晶体管阵列。

    但为什么不使用现成的带隙基准芯片? 这比任何自构建电路都精确得多。

    Kai
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    您好 Kai、

    非常感谢您的输入。
    我应该为 Rad- Hard(太空)要求开发一个电压基准,可用的现成的 Rad Hard 版本(看起来如此之远)不适合物理包络。
    如果您可以从您的防辐射产品系列中提出一个确实具有小尺寸的产品、请表示感谢

    此致、
    卡文杜
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    Kavindu

    我在产品搜索中进行了快速搜索、军用/航天产品线中有13个器件。 请查看其中的任何一项是否符合您的要求。
    www.ti.com/.../products.html

    此致
    Dennis