[参考译文] THS3491：GD2/HD3验证数据

Nishie-San、您好！

 1) 1) 我们不对失真性能(HD2和 HD3)的大量变化进行物理测试。 我们所做的变化是在器件分配之前通过 ATE 从我们的直流规格中得出的。 交流规格很难进行大量物理测试、除非数据表中通常具有开环增益或带宽。  

 2) 2)我可以查看我们是否有 THS3491样本大小的失真数据。 但是、这种情况不太可能发生、在原始 e2e 线程中、分布曲线(高斯分布)基于设计仿真和统计数据、而不是物理数据。 因此、您可以预计器件的大约99%与数据表中列出的典型值相差不超过+/-5标准偏差。  

这个 e2e 线程 具有有关我们规格的高斯分布的很好的信息。 我们的 HD2/HD3规格也是如此。  

谢谢、

Sima  

SIMA、我不相信 THS3491使用了大样本大小来获得 HD 范围。 我过去做过这项工作(包括为 HP AWG 提供失真筛选驱动程序) 、而 HD 更像是普瓦松分布、是一种消除效果。 在高清规格上使用 Guassian 可预测最低级别过于保守。 还需要使用 UV/V 类型的数据而不是 dB 数据来进行统计。 我们确实在一些 Burr-Brown 高速器件中添加了一些最小交流规格、例如 OPA2677规格表(该器 件用于 xDSL 线路驱动器、其中 HD 也很重要)- TI 买断后放弃了这种方法。  

https://www.ti.com/lit/ds/sbos126i/sbos126i.pdf

您好、Michael、

  看起来是这样的、我们在 HD 上没有较大的样本大小。

  感谢您提供的信息！ 很高兴知道有数据支持特定的分布。 对于 Burr-Brown、它们如何确定最小交流规格？ 这是基于 您的发现通过普瓦松分布实现的、还是通过设计仿真实现的？  

谢谢、
Sima  

Simi、在开发中、PDK (工艺设计套件)始终具有模型中的工艺和温度变化。 OPA2677 (以及当时的其他器件)通过设计在 CBC10中对工艺和温度进行了仿真、以构建该规格表。 对较新的产品也可以这样做、但非常耗时(昂贵)。  

通过使用 UV/V 类型的 HD 数据、HD2显示了泊松分布-这是通过平衡运算放大器结构上下的消除效果-有时您会得到完美的消除、显示出非常长的尾部在 UV/V 下变低 HD3在过零时具有更高的高斯曲率。  

我看到测试团队以 dB 表示这样做的真实悲惨案例严重低估了他们的表现。  

尊敬的 Sima-San、Michael -San、

感谢您的支持。

问题3. 我知道 HD2分布遵循泊松分布 、HD3分布 为高斯分布。

     您能不能告诉我 、当预期故障率低于100ppm 时、您会依赖多大的性能下降？

此致、

Nishie

您好、Sima-San、

很抱歉，我的解释不够充分。

我想问的问题是、HD2和 HD3特性如何因器件而异。
我认为、如果我们知道差异的分布、我们就能够知道包含不符合客户要求的最低 HD2和 HD3特性的样本的可能性。

此致、

Nishie