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器件型号：OPA2735 主题中讨论的其他器件： OPA735
您好！
最近、我们在-40 C 时遇到了对电路中四个 OPA2735AIDGK 之一的电流需求问题。这是一个非常随机的问题、并不存在于所有 PCB 中、当存在故障时、这可能是四个中的任何一个。 下图是在10欧姆电阻器上测得的室温与-40 C 电流需求间的关系，因此 电流=电压/10。
有什么原因？
尊敬的 Kai：
感谢您的回答。 是的、您认为我们的电源电流存在问题是对的。 这些图是在加电实例时绘制的。 但是、稍后我们可以观察到、即使在上电后的稳态期间、此问题也很普遍。 随附原理图-一个显示放大部分、另一个显示电源。 请注意、U1和 U2来自两个不同的 rails.e2e.ti.com/.../PITCH-CH.pdfe2e.ti.com/.../Power-and-filtering.pdf
此外、请在4 OPA2735的稳态电流与温度间的关系中找到所附的。您可以观察到2个 OPA2735中的电流增加。 
Kavindu、
我在您的原理图上看到 U1、U2和 U6、但正如 Kai 提到的、您没有显示 U4来消耗更高的电流-请进行解释。 此外、您的所有电路都将负载连接到其输出端、因此 Vout 的任何变化都会导致总电流发生变化-您在哪里测量电流？ 如前所述、 我们需要查看您的原理图、包括电源电压、输入/输出电压和负载。
尽管如此 、增加的电流可能与输出振荡相关- OPA735不能仅使用10 Ω 串联输出电阻器(R45)来驱动100nF 负载。
如果您运行瞬态分析、您将看到一个较大的过冲-请参阅下面的内容。
交流仿真显示的相位裕度仅为8度-请参阅以下内容-而建议的最小值为45度。
为了确保电路的稳定运行、您需要将 R1增大到至少45欧姆-请参阅下面的。
您好 Kavindu、
由于 U1和 U2由两个不同的电源轨供源、哪个电源轨会消耗过多 电流？ 您是否已按照 Kai 的建议更换了新零件、以消除因电感反冲而损坏零件的可能性？ 此外、我认为导致电流增加的一个很可能的原因是 U6输出不稳定、从而导致100nF 负载的输出充电/放电-您是否已确认 TP10和 TP11是否出现振荡？
为了确定导致电源电流增加的实际原因、首先我们需要开始消除上述潜在问题。
Kavindu、
由于您确认用新的单元替换 IC 可消除增加的电流、这意味着您最有可能由于电感反冲而损坏器件。 因此、您必须在输出和电源轨之间添加额定值适当的外部肖特基二极管-请查看下面的应用手册：
尽管如此、我不清楚您是否认为上述问题与 您在本帖子顶部显示的低温下的上升电流分离。 通过分析 PICS 可以很明显地看出、即使在室温下、显示的8mA 电流也远高于静态电流(两个通道的最大额定电流为1.5mA)、更不用说-40C 时的40mA、 因此、电流的增加是由于负载较重或输出级损坏(最有可能是电感反冲)。
在可能的振荡情况下、完全不能投入具有典型8度相位裕度的生产(建议最小45度)。 这是因为、即使典型单元不会有持续振荡、 晶圆制造厂工艺的变化也会导致另一批更快的单元出现不稳定的输出。
尊敬的 Marek：
感谢您的回答。
我需要澄清的是、电流测量是在我在之前的帖子中分享了原理图的整个 PCB 上完成的。 当我们跟踪到电流增加的根源时、问题在于运算放大器之一。
可以排除反冲理论、因为 U4也被发现有缺陷、这与+/- EXC 轨无关。 输出不稳定性理论也是如此。 另一方面、如果输出级由于某种原因而被吹过、我怀疑它们在室温下的功能是否正常、这对于目前发现的缺陷器件来说是完全可以的。
此外、我再次查看了相补角、发现您遗漏了一些信息。 因此、我将输出电容修改为 496nF 以表示较差情况、并在输出和-EXC 之间添加了400欧姆负载以表示实际情况。 对于这些、我们具有28度的相位裕度、我认为这是可以的、但不是理想的。 这就是为什么我认为我们在实际测试曲线中没有看到任何振荡的原因。
此时、我可以建议、如果这可能是与批次或多批次相关的制造缺陷。 或者，如果 TI 生产出最好的产品，那么这种假设还为时过早：)
Kavindu、
您修改后的电路实际上只有25度的相位裕度(请参阅下文)、并且正如 Kai 指出的、建议的最小相位裕度为45度。 这是因为仿真使用的典型模型不包括晶圆制造厂工艺变化 、这可能 导致 GBW 增加高达30%、从而导致相位裕度 降至零。 因此、如果六个月后您不想看到不同 OPA735晶圆批次的输出发生振荡、则不应只使用25度的相位裕度进行生产。
话虽如此、R2下拉电阻器会导致 OPA735提供12.2mA 的电流、由于10 Ω R1上的压降、VF1误差将导致-122mV (参见下文)。
就制造缺陷而言、对于像 OPA735这样的20年历史器件而言、这种情况不太可能发生。 此外、电源过冲(我在电源引脚上看不到 TVS)等其他可能的损坏原因可能会同时 损坏多个运算放大器。
Kavindu、
大多数模拟 IC 都是针对具有正 TC 的 IQ 而设计的(随温度增加 Iq)、以保持 GBW 恒定-请参阅下文-但变化不应超过30%(PTAT)。
因此、您看到的 IQ 的巨大变化必须由其他因素造成、例如器件或浮动输入/输出引脚的损坏。 正如 Kai 提到的、为了使任何运算放大器正常工作、您必须 使用负反馈并将输入偏置在接地端(Vout=Vs/2 - 1/2 -中位电压)、以 确保输入和输出电压处于器件的线性范围内 (例如、双电源中的1/2 Vs 为接地)。-请参阅以下内容：
