TI 客户支持中心回应称、即使温度随时间变化、也仍在数据表中列出的规格范围内。
我有疑问。
这是否意味着随着时间的推移没有变化? 或者、数据表中列出的电气特性是否包含随时间变化的情况?
如果规格包含随时间的变化、那么初始变化是什么?
下面是我关注的一个使用示例。
即使是在工厂发货前进行修整、随着产品在市场上的使用、电气特性是否会随着时间的推移而逐渐变化?
如果特征逐渐变化、我想知道在产品设计中需要结合多少变化。
This thread has been locked.
If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.
TI 客户支持中心回应称、即使温度随时间变化、也仍在数据表中列出的规格范围内。
我有疑问。
这是否意味着随着时间的推移没有变化? 或者、数据表中列出的电气特性是否包含随时间变化的情况?
如果规格包含随时间的变化、那么初始变化是什么?
下面是我关注的一个使用示例。
即使是在工厂发货前进行修整、随着产品在市场上的使用、电气特性是否会随着时间的推移而逐渐变化?
如果特征逐渐变化、我想知道在产品设计中需要结合多少变化。
随着时间的推移可能会发生变化、但参数不会超出指定限值。
例如、TLV7041-Q1的最坏情况下的额定输入失调电压为±8mV。 某些特定芯片在发运时的电压可能为0.1mV、在其使用寿命内可达7.9mV、或者从7.8mV 开始、然后更改为7.9mV。 除了数据表中指定的值、没有其他保证。
最可能的降解原因是电迁移、它是由高电流和高温引起的。 您需要接近或超过绝对最大额定值、才能看到性能下降超过指定限制。
您好、Yusuke、
这可以回答您的问题:
凯
佑介
感谢您的发帖和每个人的答复。
我担心您从 TI 客户支持中心收到的帖子和评论有点令人困惑、因此我将尝试进行澄清。
除非您专门考虑零漂移放大器上的 VOS 规格、否则预计规格在产品的整个生命周期内会发生变化。 在这种情况下、零漂移放大器会随着时间和温度的变化不断地针对 VOS 进行调整。 否则,TLV7041-Q1等比较器的规格会有一些变化,如 Kai 回避到 https://e2e.ti.com/blogs_/archives/b/precisionhub/posts/ic-long-term-stability-the-only-constant-is-change 的注释中所述 。
如链接中所述、比较器上的 VOS 之类的规格可能会发生变化、也会发生变化。 但是、我们对产品运行加速寿命测试、并寻找设计/工艺弱点、以尽量减少这些转变。 因此、假设运行在 EC 表中指定的范围内、我们的规格不会出现大幅超出限值的情况。
希望这些信息对您有所帮助。
卡盘