[参考译文] TLV7041-Q1：多年来的变化

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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

器件型号：TLV7041-Q1

TI 客户支持中心回应称、即使温度随时间变化、也仍在数据表中列出的规格范围内。

我有疑问。
这是否意味着随着时间的推移没有变化？或者、数据表中列出的电气特性是否包含随时间变化的情况？
如果规格包含随时间的变化、那么初始变化是什么？

下面是我关注的一个使用示例。
即使是在工厂发货前进行修整、随着产品在市场上的使用、电气特性是否会随着时间的推移而逐渐变化？
如果特征逐渐变化、我想知道在产品设计中需要结合多少变化。

0 admin 3 年多前

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随着时间的推移可能会发生变化、但参数不会超出指定限值。

例如、TLV7041-Q1的最坏情况下的额定输入失调电压为±8mV。某些特定芯片在发运时的电压可能为0.1mV、在其使用寿命内可达7.9mV、或者从7.8mV 开始、然后更改为7.9mV。除了数据表中指定的值、没有其他保证。

最可能的降解原因是电迁移、它是由高电流和高温引起的。您需要接近或超过绝对最大额定值、才能看到性能下降超过指定限制。

0 admin 3 年多前

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您好、Yusuke、

这可以回答您的问题：

凯

0 admin 3 年多前

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您好、Yusuke、

感谢您的发帖。是的、正如 Clemens 提到的、即使随着时间发生变化、它仍将在数据表规格限值范围内。我们只能保证它不会超过最大和最小限值、而不是它会随时间变化或变化多大。

0 admin 3 年多前

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佑介

感谢您的发帖和每个人的答复。
我担心您从 TI 客户支持中心收到的帖子和评论有点令人困惑、因此我将尝试进行澄清。

除非您专门考虑零漂移放大器上的 VOS 规格、否则预计规格在产品的整个生命周期内会发生变化。在这种情况下、零漂移放大器会随着时间和温度的变化不断地针对 VOS 进行调整。否则,TLV7041-Q1等比较器的规格会有一些变化,如 Kai 回避到 https://e2e.ti.com/blogs_/archives/b/precisionhub/posts/ic-long-term-stability-the-only-constant-is-change 的注释中所述。

如链接中所述、比较器上的 VOS 之类的规格可能会发生变化、也会发生变化。但是、我们对产品运行加速寿命测试、并寻找设计/工艺弱点、以尽量减少这些转变。因此、假设运行在 EC 表中指定的范围内、我们的规格不会出现大幅超出限值的情况。

希望这些信息对您有所帮助。

卡盘

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