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https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1256329/tlv1811-q1-about-noise-by-push-pull
大家好、
我有疑问。
与开漏相比、推挽式是否会因为快速的电流阱/电流源而发出更大的噪声？
从 EMI 方面来看、该拓扑差异对电路设计是否有很大影响？
此致、
在开关期间、两个输出晶体管可能在很短的时间内部分处于活动状态。 必须通过附近的去耦电容器对电源上产生的电流尖峰进行缓冲。
输出信号的上升沿和下降沿不比开漏输出的下降沿更快、因此在这方面没有区别。
庄家山
感谢您的发帖。 这是一个很好的问题,Clemens 提供了很好的回应。 除了 Clemens 注释外、连接到比较器输出的器件对电源的需求也会受到影响。 例如、如果连接了一个容性负载、但如果不包含额外的串联电阻、则充电或放电所消耗的电流可能会很大。 这对于我们的比较器来说不是问题、但确实对旁路电容器提出了更多要求、以便能够平缓突发的拉电流和灌电流。
克莱门斯,一如既往地感谢你对论坛的持续支持。
卡盘
