我们使用评估板并使用安装在屏蔽 CAN 周围 PCB 上方的2T 玻璃反馈电阻器、在跨阻抗模式下对 OPA928进行评估。 该电路板由干净的+/- 2.5V 电源供电、运算放大器的输入通过22pF 电容器接地、以模拟我们的电表组件、并记录输出以量化噪声水平。 我们已经发现基极噪声在特定范围内、但我们看到偶尔会出现振幅在平均基极噪声的5到10倍之间的随机碎片(10分钟内约5次)。 这些尖峰似乎是此电路板所独有的、因为我们使用 LMP7721器件运行了类似的测试、但没有看到它们。
以前是否观察过这一特性？ 我们尝试了各种屏蔽不同电源等方法、
感谢您提供任何帮助或想法
Andrew、您好！
我在使用 OPA928EVM 时遇到了类似的行为、这通常是由环境中的静电耦合导致的。 Paul Grohe 的文章 设计低泄漏毫微微安电路第2部分 详细讨论了这种效果。 在测量期间、只需在装配体周围挥手即可实时监控此效果。
如果在测量过程中移动或凸点装配线或连接的电缆、您可能会看到这样的噪声。 我甚至注意到了这种效果,移动或走得太近测量组件。 我相信、由于反馈电阻器非常大(幅度和物理尺寸上)、其作用类似于静电耦合的天线、您的特定应用电路可能对静电耦合更加敏感。
使用 OPA928EVM 进行低电平测量时、我通常将 EVM 放置在接地的附加屏蔽外壳中、并确保没有任何物体在组件附近移动。 如果将组件放置在其他实验室用户周围的大桌子或工作台上、在另一端工作的人可能会碰撞或晃动工作台、从而导致静电耦合。
需要注意的一点是、屏蔽夹并不总是提供稳定的机械连接来将小型射频屏蔽安装到 EVM 上。 如果频繁拆除和更换屏蔽件、屏蔽件夹的弹簧作用会磨损、从而使小型射频屏蔽件在受到声音或机械干扰时能够更自由地移动或振动。 这是保罗在上面链接的文章中讨论的"静电麦克风"效应。 我建议检查所安装的射频屏蔽的机械稳定性。 如果屏蔽夹松动/损坏、只要在测量过程中将组件放置在另一个屏蔽外壳中、您就可以拆除这些屏蔽。 请非常小心、不要在移除这些屏蔽后让敏感输入节点被污染。
请确保在测量过程中安装的射频屏蔽层、所有连接的电缆以及整个测量组件都具有机械稳定性、不会出现任何移动或振动。 在测量过程中避免移动或走在测试组件附近、并防止其他实验室用户也这样做。 您可以将这些条件下的测量结果与另一项测试进行比较、在该测试中、组件经常被 碰撞或移动、以验证尖峰是否是由静电耦合引起的。
此致、
扎赫
