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[参考译文] LMP2012:整个温度范围内的失调电压变化。

Guru**** 1079480 points
Other Parts Discussed in Thread: LMP2012, LMP2021
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1324447/lmp2012-offset-voltage-change-over-the-full-temperature-range

器件型号:LMP2012
主题中讨论的其他器件: LMP2021

LMP2012 μV 0.015 μ V/°C 的 TCVIO。  然而、图2至图4似乎存在冲突。  如果我对电源或共模使用垂直线、似乎偏移电压在-40°C 至85°C 的温度范围内会发生10uV 的变化。  如果我转到125C、将会更多。  这将 μV 在整个温度范围内工作时、TCVIO 比使用所列0.015 μ V/°C 时的预测值差5到10倍。  我缺少什么?

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    Monte、

    如下所示、Vos_TOTAL 有五个分量、您似乎会在温度范围内将 Vos_CMRR (第三项)和 Vos_PSRR (第四项)与第二项 Vos_Drift 混淆。

    Vos (第一届)和 失调电压温漂 (第二项)针对给定的 Vsupply 在固定条件下指定、其中 Vcm 和 Vout 处于 中位电压 -参见下文。  

    因此、TCVos 仅适用于这些特定条件、您不得更改 VCM (如图4中所示)或 Vsupply (如图2中所示)。

    下面的图2显示了25°C 时5uV Vos 随电源电压从2.7V 变为5.5V 的变化;因此、25°C 时 PSRR=20* log (2.8V/5uV)= 115dB (典型 PSRR 指定为130dB。

    下面的图2显示了在85°C 时 Vos 的18uV 变化与 Vsupply 从2.7V 变为5.5V 的关系;因此、在85°C 时 PSRR=20* log (2.8V/18uV)= 104dB (最小指定值90dB。

    同样地、上面的图4显示了在25°C 时通过 Vcm 从-0.3V 到3.2V 的典型2uV Vos 变化; 因此、在25°C 时、CMRR =20* log (3.5V/2uV)= 125dB 、而上面指定的典型 CMRR 为130dB -见上文。

    0<Vcm<3.2V 过温时最小 CMRR 为90dB 允许 Vos_CMRR = 3.2V/[10^(90/20)]=101uV 时的最大 Vos 变化;因此、图4中随 Vcm 而发生的偏移变化正好处于 此最小限值内。

    总而言之、 我认为 LMP2021数据表规格表与其典型图之间没有任何不一致之处。

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    除了 T.J =25、我们的电路将在数据表中显示的相同测试条件下运行。  器件的结温会随环境温度而变化。  所需分析的一部分是显示整个工作范围内 (从-40°C 到+85°C )温度变化导致的误差或灵敏度。  我可以对固定输入偏移电压进行校准、但温漂引起的移位有问题-部分原因是所连接传感器的非线性特性。  

    总而言之、如果我维持测试条件(不包括温度)、我应该能够使用 TCVos。  从25°C 到-40°C: ΔVos =(-65°C *。TCVos)=-0.975 µV、从25°C 到+85°、它将 ΔVos =9 µV μ s。  这使2µV 温度曲线的总变化非常显著、不到5 μ V。  实际上、我希望工作环境更加良性、ΔT 通常是< 40 °C。

    我想我应该会看到这个运行测试点反映在温度曲线的收敛过程中、从而显示了一个最佳运行点。  我可以在图上画一条垂直的操作线。  对于图4、Vcm = 2.5V。 (无变化)、Vsupply 固定为5V。  图形上剩余的信息是垂直线与曲线相交处不同温度下的 Vos。  

    根据您的解释、这超出了这些图形及其二维信息的范围。  一些专门针对测试条件之外的漂移特性的附加图可能会很有用。

    感谢你的帮助。

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    Monte、

    0.015 μ μV°C 的 TCVIO 是典型值而不是最大值的 Vos 漂移。  因此、在25°C 的测试条件下 (Vs=Vout=2.5V、Vs=5V)、最大 Vos 为+/-36uV、但在整个温度范围内 、您可以预期最大 Vos 高达+/-60uV -请参阅下面。 因此、我估计 漂移标准偏差为+/-0.04uV/C、最大漂移为+/-0.24uV/C (6西格玛)。

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    这是我需要的信息。  对于给定的单个放大器、这有多稳定?   我能够测量电路板温度。  我可以进行包含温度的单独校准。  这里假设失调电压漂移是可重复的?   我想这是可能应用长期温漂的情况。

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    Monte、

    如果您执行单个运算放大器过热校准、每个单元的漂移将是非常可重复的。 就温漂的长期漂移而言、在统计上说、在 25摄氏度下运行10年后、大约95%的 所有单元的漂移 变化不应超过0.08uV/C (2西格玛)。