[参考译文] TLE2426：在 TLE2426IDR 的所有采样中都发现了不同程度的划痕和铜暴露

Heidi、您好！

这些是 IC 筛查流程中的测试标记、每个 IC 都会经过既定的测试序列。 如果对 IC 进行了评估并且符合筛选后的数据表规格、则在 ATE 生产线末端会封装器件。 这些标记是正常的、不会影响器件的功能。

请给我几天时间,我会看到我们是否有标准或化妆品的外观交付的产品。 中间图像被放大6X-8X、因此从图像中看会"划伤"。 我将了解我们是否对这些标记具有标准质量控制。 如果是、如何将这些标记定义为可交付货物的可接受"划痕"。 。  

此致！

雷蒙德  

Heidi、您好！  

我已经收到了我们制造质量工程师的回复-"划伤"标记是 在 ATE 测试过程中生成的(不同的插座引脚会产生不同的划痕)。  从下面的快照视点来看、它通常属于标记并在规格(QSS-005-105)范围内。

QSS-005-105V/M 成品质量(双内联引线表面贴装封装)

https://giant.sc.ti.com/SCQS/qssrep.nsf/active/005-105.pdf/$File/005-105.pdf?OpenElement

我的评论。 铜基合金引线是容易刮伤的金属导体。 如果产品存在可焊性问题、我们可以联系质量工程师。   

如果您还有其他问题、请告诉我。  

此致！

雷蒙德  

Heidi、您好！  

信息不是公开的,我不知道。  

我会通过 E2E 私人消息系统向您发送"友谊"邀请。 我将在我们建立联系后向您发送文件。  

此致！

雷蒙德