工具与软件：
您好！
我是 Luis Eduardo Pedro Sedeño ñ o。 我正在高温应用中使用您的 SHKQ 和 SHKJ 组件、我需要在200ºC μ A 下工作的组件的可靠性数据。 我已经检查了您的网站和时基故障计算器、但时基故障率只能调整为最多175ºC μ A。 我们是否可以期望在符合阿仑尼乌斯方程的情况下、最高可200ºC μ s 的操作相同？ 210ºC、我在 T Ü V S Ü D 公司看到了可靠性报告、但样本数量太少、而且没有看到这些高温试验是通过部件工作进行的、而是通过存储试验等机械试验进行的。
非常感谢。
此致、Luis Eduardo。
尊敬的 Luis：
我们是否可以预计到200ºC μ s 的操作将是相同的、符合阿仑尼乌斯方程？ [报价]您当然可以使用阿仑尼乌斯方程来估算器件在200C 或210C 时的时基故障。 在125°C 的测试温度下、样品大小很高、置信度应该更好。
下面是数据的捕获。 可通过以下链接找到。
https://www.ti.com/quality/docs/estimator.tsp?opn=OPA2333SHKJ&cpn=&partNumber=opa2333#resultstable
您应该能够从下面的公式推导加速因子、并估算200C 时的其余时基故障数据。
[quote userid="610177" url="~/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1374353/opa2333-ht-reliability-fit-data-at-200oc 我看不到这些高温测试是在组件工作的情况下进行的,但存储测试和其他机械测试。
是的、仅在我们目录中的少数运算放大器中提供高温额定值。 这不是汽车和工业以及/或应用标准。 由于缺乏需求、要可靠地实现这些产品是非常困难的。
如果您有其他问题、请告知我们。
此致！
Raymond
