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[参考译文] TLV9064:最大的 Vos 和自动 Vos 零技术

Guru**** 1774980 points
Other Parts Discussed in Thread: TLV9064
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1374226/tlv9064-the-maximum-vos-dt-and-the-auto-vos-zero-tech

器件型号:TLV9064

工具与软件:

嗨、团队:

以下问题需要您的帮助:

  1. 我想问一下、 TLV9064中是否集成了内部自动置零功能、也就是说、随着时间和温度的变化、TLV9064是否可以自行监控和校正失调电压?
  2. DS 中的最大值为空。 您能解释一下我们为什么不提供该值吗?

此致、

Rannie

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    没有自动置零功能。

    图2 µV 条之和为100%、且温漂被钳制于小于2 μ V/°C;我想该选择是在测试期间完成的。 我怀疑温漂随时间的变化没有经过测试。

    该器件针对低成本进行了优化。

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    您好、Clemens:

    感谢您的答复。

    为什么电气特性表中未显示2uV/C?

    此致、

    Rannie

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    因为不能保证一定会发生这种情况。

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    图2表明对漂移进行了一些测试。 但我想知道为什么不在 DS 中显示最大值?  如果客户想评估最坏的漂移。 他们应该使用哪些值?

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    随着时间的推移、温漂可能会变得更糟。 总之、TI 不想保证一定的限制。

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    明白了您的观点。 但此商品中的单位是 UV/C、与温度有关、但与时间无关。

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    尊敬的 Rannie:

    克莱门斯对他的所有观点都是正确的。  

    我们的图用于向客户提供有关可以在特定器件示例中观察到何种类型变化的参考。 这些图无法保证数据表 EC 表中的最大值或最小值。 如果我要为客户提供指导、就会充分保护此设计以确保设计能够承受 Vos 随温度的变化。   

    通常、与偏移相关的规格通常看起来在某种程度上服从高斯分布(但并不总是如此)。 这意味着您可以大致计算在一定数量的标准差内找到器件的统计概率。 从53µV 表中可以得出:~68%的器件温度会在+-μ V/°C 范围内 在这种特定情况下、"桶"相当宽、因此准确确定靠近桶的2µV /°C 侧的器件数量具有挑战性。

    我2µV 对最坏情况分析考虑一个大于+- 1 μ V/°C 的数字。 如果我自己进行此计算、我会考虑25°C 下的最大失调电压和温度范围内的最大失调电压来确定失调电压的基本限值。 从技术上讲、器件可以具有较低的固有输入失调电压、尤其是较大的温漂值、但 EC 表中的这些过热规格通常会考虑器件分布及其在温度范围内的行为。  

    这意味着我的6.154µV 最大值将为+-2mV -+-1.6mV /(-40C - 25C)=+- 1 μ V/°C

    不过、请了解这仍然是估计的最大值。 客户可能永远不会看到漂移如此大的器件、但对于 TLV9064等器件、我无法保证这一点。  

    考虑问题的最佳方法是、数据表中的每一个最大值或最小值都会增加器件成本、因为 TI 需要充分保证我们销售的器件不会超过这些限值。 因此、成本优化型 TLV9064在许多规格下都不具有最大规格。 如果客户确实需要 TI 保证的硬性限制、则这种限制很可能导致成本溢价。

    客户使用的温度范围是多少?  

    如果客户有任何问题、请告诉我。

    此致!

    Jacob

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    尊敬的 Jacob:

    感谢您的详细解释。 关于 Vos 随时间的变化、我们不会进行任何相对测试、对吧?

    此致、

    Rannie

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    嗨、Rannie、  

    随时间变化是一个要指定的更具挑战性的参数、但这在器件表征中进行了测试。 其想法是模拟器件的预期寿命、并观察某些参数的变化。

    Marek Lis 写的这篇文章有一篇很棒的文章:  

    IC 长期稳定性:唯一的常数是变化

    实际上、器件的老化会在零中心参数(如 Vos)下扩大高斯分布。

    如果您有任何问题、敬请告知。

    谢谢!

    Jacob