[参考译文] INA128：INA128UA

PCN# 20220802000.1引入了一种全新的裸片。 列出了数据表修订版 F 的变更。

您的失败测试表明测试了哪些电气特性？

您好、Anna、

Clemens 正确、PCN 详细说明为此器件添加了一种新设计。 请提供哪些参数不符合您的规格。 您是否有原理图或一些测量结果来为我们提供有关该行为的更多信息？

此致！
Gerasimos

尊敬的 Gerasimos：

我有两条信息：

首先、我们已在二极管测试器模式下检查万用表中的+4个和-6个引脚。
我们比较了焊接位置的-2IC。 新 IC 的电压比旧 IC 高140mV。

第二个是来自终端产品测试仪的制造商、该制造商向我们提供了以下反馈：  

Δ V 在与„ 的 电路板测试问题有关时、我们发现测试失败与钳位二极管上测量的压降有关。 我们执行的 ICT 测试是一种低级组件验证。 这意味着 ICT 测试本身不会为电路加电、在专用测试点上没有实际的电压测量等 执行低级 ICT 测试的目的是根据 IC 可测量的内部结构检测最终缺失或错误的插入方式元件。 在当前情况下、逻辑门 IC 在其输入端具有钳位二极管。 通过简单的二极管测量了解 IC 内部钳位二极管的位置、我们就可以决定是否以正确的方向存在 IC。

 此类二极管的正向压降约为0.6V。 为了在评估时精确到可接受的水平、我们选择了第一个测试样片(第一个制造批次之前的黄金样片)的正向压降。 接受的阈值电压定义为相对于黄金采样值的+/-30%。

现在,我们使用完全相同的指定组件,但肯定来自不同的制造批次,甚至来自不同的制造商。 这会导致钳位二极管的正向压降发生轻微变化、从而导致测试失败、因为基极参数尚未调整。 但是、只要内置正确的元件、我们就可以确保整个电路按预期工作。 基于此、我们可以调整接受水平、使其足够窄、以排除错误、但又要足够宽、以处理细微的制造差异。"

根据这一信息、我们认为新版本中修改的容差与测得的电压类似。

考虑到这些信息、我们认为情况发生了变化。
您是否知道为什么会发生这种情况？ 您在生产过程中是否进行了任何更改？

提前感谢您！

安娜