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[参考译文] TL331:用于航空航天最坏情况分析的老化和辐射漂移

Guru**** 2387080 points
Other Parts Discussed in Thread: TL331
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1477711/tl331-ageing-and-radiation-drift-for-worst-case-analysis-in-aerospace

器件型号:TL331

工具与软件:

我的同事和我正在对航空航天应用进行最坏情况分析、其中涉及的 德州 仪器(TI)组件包括:

  •  TL331MDBVTEP

我们有兴趣了解有关这些组件特定参数的温度和/或老化漂移的更多信息。

下面提供了一个属于  最坏情况分析一部分的组件参数表。

在表中、我们用绿色突出显示了已经提供的技术文档验证的值、用红色突出显示了我们没有技术验证的值。

是否有可能获得这些信息? 有人已经掌握了这些信息吗?

提前感谢您

 

此致、

Antonio

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Antonio、您好!

    TL331不包含精密器件-因此我们没有执行任何长期漂移研究。

    但作为我们设计的一部分、我们的经验法则是中心参数、例如 Vos、可以在10年内漂移高达100%。