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[参考译文] TMS570LS1224:许多输入在 ADC 自检时不确定

Guru**** 2188815 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS570LS1224
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1475596/tms570ls1224-many-inputs-undeterminded-at-adc-self-test

器件型号:TMS570LS1224

工具与软件:

您好!

我们遇到了针对上述控制器的自检的问题、见下表。 我的理解是:vu > Vn > Vd、这是对的吗?

对于输入连接、我无法分享详细的电路、但连接了不同类型的元件(例如继电器反馈、电阻偏压测量、RC 滤波元件等)。

我想测试更长的转换时间、但从功能/安全角度来看、这是可以接受的、前提是待定。

有什么想法, 这些结果的根源可以在哪里?  使 Vn = 0时、输入端的电容太大?

此致

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    尊敬的 Timon:

    Unknown 说:
    我们对所述控制器的自检有问题、见下表。 我的理解是:VU>Vd>Vd Vn、这是对的吗?

    您的理解是正确的、这应该是应满足的基本条件、这里是为获得良好结果而进行的实际比较。

    有什么想法、 这些结果的根源可以在哪里?  使 Vn = 0时输入端电容过大?

    我不知道该问题的确切根本原因、

    我将进一步分析以找到根本原因。

    ——
    谢谢、此致、
    Jagadish。

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    您好 Jagadish、

    感谢您的回答。 我们可以评估以下结果:

    执行 Vn 自检时、ADC=0的输入没有大于 GND 电位的输入信号。 根据我的理解、信号>GND-potential (或 ADREFLO)需要得到"良好"的结果、否则3个测量值 Vn、Vd、Vu 的比较不起作用。

    板载信号受 ADC 输入端并联电容的影响。 采样时间不足以使系统稳定、当改变容量和/或采样时间时、结果会"良好"。

    此致

    Timon

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    尊敬的 Timon:

    根据我的理解、需要信号>GND-potential (或 ADREFLO)才能获得"良好"结果、否则3个测量值的比较 Vn、Vd、Vu 不起作用。

    我明白了。

    为了获得良好的结果、在 REFLO 和 REFHI 之间输入总是会更好。 我怀疑在客户的情况下、它会发生变化、有时会转至 GND、这会导致结果中出现问题。

    ——
    谢谢、此致、
    Jagadish。

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    您好 Jagadish、

    此外、我们在从分销商处采购主16MHz 晶体振荡器时遇到问题。

    我们一直使用 NDK 参考、但它很难找到。

    我们已确定另一个 NDK 参考 NX3225GA-16.000M-STD-CRG-2、但我们仍在等待 NDK 确认其与 TMS570LS1224 MCU 的兼容性。

    TI 是否可以针对此 MCU 推荐一些符合汽车标准的16MHz 晶体振荡器基准?

    感谢您的帮助。

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    尊敬的 David:

    对于延迟响应深表歉意、在这段时间内、我对其他问题感到困惑:

    我在原理图中找到了以下器件型号:

    您能看看这是否对您有所帮助吗?

    ——
    谢谢、此致、
    Jagadish。

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    [报价 userid="524805" url="~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1475596/tms570ls1224-many-inputs-undeterminded-at-adc-self-test/5677930 #5677930"]

    我在原理图中找到了以下器件型号:

    您能看看这是否对您有所帮助吗?

    [报价]

    您好 Jagadish、

    遗憾的是、此 振荡器不符合汽车标准