工具与软件:
您好!
我们遇到了针对上述控制器的自检的问题、见下表。 我的理解是:vu > Vn > Vd、这是对的吗?
对于输入连接、我无法分享详细的电路、但连接了不同类型的元件(例如继电器反馈、电阻偏压测量、RC 滤波元件等)。
我想测试更长的转换时间、但从功能/安全角度来看、这是可以接受的、前提是待定。
有什么想法, 这些结果的根源可以在哪里? 使 Vn = 0时、输入端的电容太大?
此致
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工具与软件:
您好!
我们遇到了针对上述控制器的自检的问题、见下表。 我的理解是:vu > Vn > Vd、这是对的吗?
对于输入连接、我无法分享详细的电路、但连接了不同类型的元件(例如继电器反馈、电阻偏压测量、RC 滤波元件等)。
我想测试更长的转换时间、但从功能/安全角度来看、这是可以接受的、前提是待定。
有什么想法, 这些结果的根源可以在哪里? 使 Vn = 0时、输入端的电容太大?
此致
尊敬的 Timon:
Unknown 说:我们对所述控制器的自检有问题、见下表。 我的理解是:VU>Vd>Vd Vn、这是对的吗?
您的理解是正确的、这应该是应满足的基本条件、这里是为获得良好结果而进行的实际比较。
有什么想法、 这些结果的根源可以在哪里? 使 Vn = 0时输入端电容过大?
我不知道该问题的确切根本原因、
我将进一步分析以找到根本原因。
——
谢谢、此致、
Jagadish。
您好 Jagadish、
感谢您的回答。 我们可以评估以下结果:
执行 Vn 自检时、ADC=0的输入没有大于 GND 电位的输入信号。 根据我的理解、信号>GND-potential (或 ADREFLO)需要得到"良好"的结果、否则3个测量值 Vn、Vd、Vu 的比较不起作用。
板载信号受 ADC 输入端并联电容的影响。 采样时间不足以使系统稳定、当改变容量和/或采样时间时、结果会"良好"。
此致
Timon
尊敬的 Timon:
根据我的理解、需要信号>GND-potential (或 ADREFLO)才能获得"良好"结果、否则3个测量值的比较 Vn、Vd、Vu 不起作用。
我明白了。
为了获得良好的结果、在 REFLO 和 REFHI 之间输入总是会更好。 我怀疑在客户的情况下、它会发生变化、有时会转至 GND、这会导致结果中出现问题。
——
谢谢、此致、
Jagadish。
您好 Jagadish、
此外、我们在从分销商处采购主16MHz 晶体振荡器时遇到问题。
我们一直使用 NDK 参考、但它很难找到。
我们已确定另一个 NDK 参考 NX3225GA-16.000M-STD-CRG-2、但我们仍在等待 NDK 确认其与 TMS570LS1224 MCU 的兼容性。
TI 是否可以针对此 MCU 推荐一些符合汽车标准的16MHz 晶体振荡器基准?
感谢您的帮助。
尊敬的 David:
对于延迟响应深表歉意、在这段时间内、我对其他问题感到困惑:
我在原理图中找到了以下器件型号:
您能看看这是否对您有所帮助吗?
——
谢谢、此致、
Jagadish。
我在原理图中找到了以下器件型号:
您能看看这是否对您有所帮助吗?
[报价]您好 Jagadish、
遗憾的是、此 振荡器不符合汽车标准