[参考译文] MSPM0G1506：NMI 事件中 LFCLKFAIL 的检测机制

你好、Ryota、

以下是我的共用：

• 首先要检查外部晶振是否正常工作：检查晶振的频率值、检查使用的电容值。

• 其次、尝试使用内部 LFOSC 生成 LFCLK 并检查是否也会发生该问题。
• 最后、尝试更改要使用的另一个芯片、检查是否也会出现此问题。

并添加一个共同的,因为我明天将回家中国新年,请在2月5日以后回复我,如果你有任何进一步的问题,谢谢!

此致、祝您愉快！

Janz Bai

尊敬的  Janz-San：

感谢您回复此评论。

＞首先检查您的外部晶振是否正常工作:检查晶振的频率值,检查您使用的电容值。
->->晶体振荡器值为32.768kHz。 电容器值为15pF。  负载电容由晶振制造商的晶振匹配决定。

＞其次、尝试使用内部 LFOSC 来生成 LFCLK 并检查是否也会发生此问题。
 使用 LFOSC 功能时不会出现此问题。 在我们的系统中、RTC 需要高精度、因此我们需要使用外部振荡器。

＞最后、尝试更换另一个要使用的芯片、检查是否也会出现此问题。
->->  另一芯片也出现了同样的问题。

MCU 检测到什么事件导致 LFCTRFAIL？ 是频率不匹配吗？
这是否可能是直流电平的变化？ 还有其他可能吗？

你好、Ryota、

我已经从农历新年假期回来了。 似乎根本原因还是晶体振荡器或者电路设计。 您可以在数据表中找到、表明 LFXIN 和 LFXOUT 引脚上有寄生键合和封装电容。 在数据表中、计算值为1 pF、 LFXIN 和 LFXOUT 引脚上的寄生键合和封装电容为每个引脚2pF。  事实上、在某些情况下、每个引脚的电容可能为5 pF、因此请尝试减小您在电路中使用的电容值(从15pF 降低)。 并尝试另一个晶体振荡器来进行测试。

此致、

Janz Bai