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[参考译文] MSPM0G3507-Q1:AEC-Q100低温测试

Guru**** 2399305 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1505798/mspm0g3507-q1-aec-q100-cold-temperature-testing

器件型号:MSPM0G3507-Q1

工具/软件:

您好:

对于  M0G3507QPTRQ1微控制器的 AEC-Q100测试、对贮存温度进行的测试温度是多少?  是否低于-40C 的工作温度规格?  我们有一个需要低至-51C 存储的应用程序、需要知道这个微型器是否已经过测试。

谢谢!

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    尊敬的 Bill:

    低于-40°C 超过了我们的绝对最大值、因此我们不能保证任何超出数据表编号的情况。 对于您的用例、您必须测试您的温度要求、因为它超出了我们的范围。 请注意、不同的封装在耐低温方面也存在差异(QFN 与 QFP、以及整体封装尺寸)。

    此致、
    Luke  

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    Luke、您好、我们能否收到这款芯片的 AEC-Q100测试报告副本?

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    尊敬的 Bill:

    您可以从资质认证摘要-> https://www.ti.com/qualificationsummary/qualsumm/home?actionId=2800 输入您要查找的可订购器件型号中获取摘要。

    如果您想详细了解具体数字、可在汽车 PPAP ( https://www.ti.com/support-quality/additional-information/automotive-ppap.html )中找到相关信息、此文档通常需要 NDA。

    此致、
    Luke

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    好的、谢谢。  我已提交 PPAP 文档申请、现在就来了解具体情况。