请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号：TMS570LC4357-TMS570LC4357 EP 工具/软件：
大家好、我想在 TMS570LC4357-SDL 中使用 EP。
将 sl_Self Test_Flash 与 FLASH_ECC_TEST_MODE_1位配合使用会导致数据中止。
数据故障状态为0x00001008。 我查找了文档、似乎设置了 SLVERR/DECERR 位时、存在精确的外部中止(尽管它在此中止中似乎无效)。
数据故障地址为0xFFFF0E20。 地址范围为 EPC 寄存器、尽管它超出了有效范围。
它正好位于 CAM 索引寄存器中、即0xFFFF0E00到0xFFFF0E1F。
sl_Self Test_Flash 似乎会访问 CAM 索引寄存器。 可能会发生什么事？
此外、当电路板上电时、它也会导致数据故障(上电、等待一段时间、然后连接调试器以找出数据中止)、但如果我通过调试器进行 CPU 复位、然后重新运行程序、它会在不中止的情况下完成、尽管测试结果是失败的。
我的编译器是 IAR EWARM 7.40.6、LDRA 版本为2.4.0。 调试器为 XDS110。 如何解决此问题？
感谢您的帮助！
