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[参考译文] TMDSEMU110-U:缺陷

Guru**** 2551110 points
Other Parts Discussed in Thread: TMDSEMU110-U

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1539892/tmdsemu110-u-defect

器件型号:TMDSEMU110-U


工具/软件:

亲爱的女士和先生

作为 2025年1月23日 订单的一部分、有一款产品存在缺陷。

我们恳请您提供替换交货以及相应的退货文件。

MFPN:TMDSEMU110-U 序列号 7855403405518155-0001R 修订版 A 发票编号:82813754

我们还想传达工程师的描述、以阐明流程:

由于 Code Composer Studio 中与 TI C2000 器件的 JTAG 连接测试失败、因此 XDS110 单元出现故障。 Windows 正确识别 XDS110、从 XDS110 到 C2000 目标器件的电缆线束也正确、因为另一个 XDS110 正常工作。  

请尽可能与我联系。

非常感谢

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、

    您在 CCS 中看到什么故障代码? 本应用手册可帮助进一步调试: https://www.ti.com/lit/an/spracf0/spracf0.pdf

    此致、

    马特

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    您可以在下面找到来自 CCS 的失败消息 — 故障代码是–233。  

    我们检查了应用手册中针对故障代码–233 给出的建议、但 由于另一个 XDS110 探针正常工作、因此我们针对 MCU 板和电缆线束的 PCB 设计是正确的。 因此、请建议对探针进行软件修复、否则这显然是 XDS110 探针上的硬件故障、我们需要进行更换、因为这会影响我们的工程。

    谢谢

    Francesco Paparella

    [开始:Texas Instruments XDS110 USB 调试 Probe_0]

    执行以下命令:

    %CCS_BASE%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafile%-rv -o -S integrity

    【结果】


    ----- 【打印线路板配置路径名】------------------------------------

    C:\Users\FPAR~1\AppData\Local\TEXASI~1\
    CCS\ccs1220\0\0\BrdDat\testBoard.dat

    ----- 【打印重置命令软件日志文件】------------------------------------

    该实用程序选择了 100/110/510 类产品。
    此实用程序将加载适配器'jioxds110.dll'。
    库构建日期为“2022 年 11 月 28 日“。
    库构建时间为“16:30:46“。
    库软件包版本为“9.10.0.00080"。“。
    库组件版本为“35.35.0.0 “。
    控制器不使用可编程 FPGA。
    控制器的版本号为“5"(“(0x00000005)。
    控制器的插入长度为“0"(“(0x00000000)。
    此实用程序将尝试重置控制器。
    此实用程序已成功重置控制器。

    ----- 【打印重置命令硬件日志文件】------------------------------------

    通过切换 JTAG TRST 信号、将使扫描路径复位。
    控制器是具有 USB 接口的 XDS110。
    从控制器到目标的链路是直接的(不使用电缆)。
    该软件针对 XDS110 功能进行了配置。
    控制器无法监测 EMU[0]引脚上的值。
    控制器无法监测 EMU[1]引脚上的值。
    控制器无法控制输出引脚上的时序。
    控制器无法控制输入引脚上的时序。
    扫描路径链路延迟已恰好设置为“0"(“(0x0000)。

    ----- 【发生错误,此实用程序已中止】------------------------

    此错误由 TI 的 USCIF 驱动程序或实用程序生成。

    值为“-233"(–233(0xffffff17“0xffffff17)。
    标题为“C_ERR_PATH_BROKEN “。

    解释如下:
    JTAG IR 和 DR 扫描路径无法循环位、它们可能会损坏。
    尝试扫描 JTAG 扫描路径失败。
    目标的 JTAG 扫描路径似乎已损坏
    或零卡滞故障的情况下运行。

    [结束:Texas Instruments XDS110 USB 调试 Probe_0]

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好:

    探头 LED 指示灯的状态是什么?

    资料来源: https://www.ti.com/lit/ug/sprui94/sprui94.pdf

    您是否也可以尝试手动更新探头的固件? 请参考本指南中的步骤: https://software-dl.ti.com/ccs/esd/documents/xdsdebugprobes/emu_xds110.html#updating-the-firmware

    此致、

    马特

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    您好:

    很抱歉我弄错了。 根据 TI ToS、我们不提供评估类商品故障分析。  如果您愿意、我们可以继续调试该线程上的 XDS110 问题。

    再次道歉、

    马特