工具/软件:
尊敬的 Champs:
现在客户已经检查了可靠性测试报告、但他们仍然需要以下测试结果、您能帮助检查一下吗? 谢谢!
R/W 循环:执行一个 100K 擦除/写入操作周期、然后再进行擦除、以验证存储器的寿命。
电源循环:在测试过程中、确保在高温和低温环境中以不同的电压测试一批芯片。
例如:HTHP:高温高压下电上电、将芯片置于 125°C 环境中、将电压设置为 3.6V、然后执行随机上电和断电、其中上电持续时间在 0.8s 到 2s 之间、断电持续时间在 20s 到 30s 之间。 MCU 在停止前计数达到 10,000 次、用于监测芯片的上电和断电状态是否正常。
此致、
Julia