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[参考译文] TMS570LC4357:TMS570LC4357

Guru**** 2506865 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS570LC4357

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1552015/tms570lc4357-tms570lc4357

器件型号:TMS570LC4357


工具/软件:

我们计划 在高真空环境中使用 TMS570LC4357。 我担心的是、由于微控制器环境中没有自然对流、因此是否需要考虑该微控制器的散热方法。 50ºC、我们将只辐射到环境中(周围温度在–30 μ m 至+10 μ m 之间) 并从元件传导到 PCB。 在您的数据表中、我没有看到有关冷却要求的任何注意事项、但我仍想保证这一点。  
谢谢你  
此致、
Ibrahim
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    尊敬的 Ibrahim:

    对延迟的回复表示歉意! 我休息了几天,没有时间处理这个问题。

    TMS570LC4357 数据表提供了 BGA 封装的热阻特性。 这些值、尤其是结至电路板的热阻、对于计算真空环境中通过传导到 PCB 的散热至关重要。

    片上温度监测
    TMS570LC4357 有三个片上温度传感器用于监测结温。 这些传感器的测量结果会路由到 MibADC、然后转换为数字值。 这使得应用能够监控器件温度并在超过规格时采取措施。 可能的操作包括记录事件、关闭外设或减慢时钟速度以降低结温。

    • 传感器位置:  温度传感器 1 和 2 位于 ADC 附近、与引脚 A1 转角相对。 温度传感器 3 靠近器件中心。

    在单粒子闩锁 (SEL) 测试期间、该器件在 125°C 的 IC 温度下运行。 测试采用为真空环境指定的离子动能进行。 在这些条件下未观察到闩锁事件。

    --
    此致、
    Jagadish。