[参考译文] TMS570LC4357：XDS110_TMS570LC4357 Debug_Probe_For_

尊敬的 Vijay：

我们以前在此设备上从未遇到过此问题。

我在下面的其他 TI 器件上发现了类似的问题、请一次性参阅：

(+) TMDSEMU200-U：调试器无法正常工作 — 基于 Arm 的微控制器论坛 — 基于 Arm 的微控制器 — TI E2E 支持论坛

这在内部生成了我们的 AI 响应、这可能也很有用、请验证一次。

根据提供的技术文档、将 XDS110 调试探针与 TMS570LC43xx 器件一起使用时、出现连接错误的一个潜在原因是 SCI 模块中的设置不正确。

当连接电路板以使用通过 SCI 端口集成在板上的 XDS110 USB 仿真器进行测试时、必须确保在器件寄存器中启用特定位。 必须启用“SCI Continue on suspend 位“、即 SCI 全局控制寄存器 1 (SCIGCR1) 中的第 17 位。

这些文档指定以下连接方法和所需的设置：

• 连接：  使用 SCI 端口上的 USB 电缆与集成式 XDS100/XDS110 USB 仿真器一起进行测试。
• 所需设置：  使用 HALCoGen 工程时、请确保启用 SCI 模块中的“SCI Continue on Suspend Bit (SCI 全局控制寄存器 1 (SCIGCR1) 中的第 17 位）“。

提供的文档不包含对错误代码“（错误–1041 @ 0x7）“的具体说明。

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此致、
Jagadish。