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[参考译文] AM2634:运行边界扫描测试

Guru**** 2756805 points

Other Parts Discussed in Thread: AM2632, AM263P4

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1557833/am2634-issue-running-boundary-scan-test

器件型号:AM2634
主题:AM263P4 中讨论的其他器件

工具/软件:

我在此论坛上的另一个主题(AM2632:基于 ARM 的 MCU 无法使用 AM263.BSDL 进入边界扫描模式)上也提到了相同的问题  、但这些问题未得到解决。

此器件提供的 BSDL 文件 (AM2634CODFHAZCZR) 指定一个 8 位指令寄存器、但当我们捕获该寄存器的值时、它仅返回四位。

我们还看到、从器件返回的 IDCode 与 BSDL 文件中指定的值相比、具有不同的版本和器件型号值。

正如上一线程中所建议的、我们尝试了不同的引导模式、并看到了不同的行为。  上述行为是使用 BOOTMODE 0110 时出现的。  当我们尝试使用 1001 时,在另一个线程中建议,我们没有从链中返回数据。  器件的 TRM 中没有引用这些引导模式。

非常感谢

Stuart

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    你好、Rijohn、

    感谢您发布新的 BSDL 文件以及 BSDL 模式的上电序列。  将其作为合规性段放在文件中是正常的做法、但最好是它位于其中的某个位置。


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    你好、Rijohn、

    感谢您发布新的 BSDL 文件以及 BSDL 模式的上电序列。  将其放在文件的合规性部分是正常的、但最好将其放在其中。

    我们通过将 JTAG 状态机移到 IR 捕获、然后移动 IR 移位来读取指令寄存器。  我们将一个标记通过时钟输入 TDI、并监测 TDO 以查看该标记何时在时钟沿输出。  我们看到、读取标记需要 8 个 TCK、这就是我们所知道的 IR 为 8 位宽、而不是文件中列出的四位。

    虽然 IDCode 是可选的、但当 JTAG 状态机进入测试逻辑复位状态时、它在默认情况下仍然处于选中状态。  如果器件未实现、则在测试逻辑复位时应选择 IDCode 旁路模式。  我可以解决 IDCode 不正确的问题、但需要在文件中提供正确的指令寄存器长度。

    我们已经尝试使用不同的引导模式配置。 幸运的是、我正在开发的电路板具有 DIP 开关、用于配置这些引脚的值。  我们已经尝试了建议的值、但可以看到前面所述的行为。

    任何进一步的帮助收到了伟大的。

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    您好、Stuart、

    合规性 不起作用、因为全局校验器是失败的、因为这些引脚具有边界扫描寄存器。

    我们看到读出标记需要 8 个 TCK、这就是我们知道 IR 为 8 位宽、而不是文件
    中列出的四位。

    在该文件中、它也被列为 8 对吗?


    幸运的是、我正在开发的电路板具有 DIP 开关来配置这些引脚的值。  我们尝试了建议的值、但看到了之前描述的行为。

    您能否将 DIP 开关设置为 1001 状态、并通过连接到 R5F CORE0 并读取 MSS_TOPRCM_SOP-MODE_VALUE 寄存器的值进行确认。

     



    最棒的餐厅
    Rijohn


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    你好、Rijohn、

    文件中的 IR 长度与我们在电路板上看到的长度不同。

    正如您突出显示的那样、BSDL 文件指定了一个 8 位寄存器;但是在运行测试时、我们只能看到 TDI 和 TDO 之间的四个位。

    我没有读取注册表的工具、但我已询问客户是否需要工具来读取注册表。

    我会在我得到他们的答案后尽快回来给你,但如果你能检查在什么情况下,会有一个四 BIR IR 寄存器,这将是非常有帮助的。

    非常感谢

    Stuart

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    我刚刚重新读了我的前一篇文章,看到我有四个和八个位的错误的方式。  我确认我们看到四位、而不是文件中列出的 8 位。

    为混乱而道歉。

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    您好、Stuart、

    您能给我们分享 测试案例吗? 我们将复制仿真
     -测试 tck、TM 和 tdi 如何变化的案例。

    谢谢、此致
    Rijohn

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    你好、Rijohn、

    我们正在应用 TMS 复位 (TMS 高电平持续 5 个 TCK) 以进入测试逻辑复位状态。  然后、我们将通过 JTAG 状态机切换到 IR 捕获、再切换到 IR 移位。

    在 IR 移位中、我们将标记应用于 TDI 引脚、您可以选择您的标记、但我认为我们正在 8 个 TCK 之间使用 0x96。  在 IR 移位中、我们始终监视 TDO 以查看报告的值。  我们期待看到标记从 TDO 流出、然后我们知道在此之前的所有内容都来自器件的 IR 寄存器。

    然后、我们检查从 IR 寄存器重新创建的值、并将其与 BSDL 文件中定义的 IR 捕获值进行比较。

    我希望这是清楚的,但如果你需要更多的细节,请告诉我。

    Stuart

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    在 1001 状态下设置 DIP 开关的寄存器 MSS_TOPRCM_SOP-MODE_VALUE 值为 0110 (0x06)、如下图所示。

     

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    您好、Stuart、

    对延迟回复表示歉意。

    我们的 DFT 工程师正在努力 重新创建此设置 、下面提供了我从中获得的状态:
    “它们在 SOP1 模式下上电、然后达到 SHIFT IR 状态、然后从 tdi 转换。“
    我将尝试获得结果并在 9 月 30 日前分享

    谢谢、
    Rijohn

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    您好、 Stuart、

    DFT 工程师使用 JTAG TAP 控制器测量了指令寄存器 (IR) 长度。

    • 器件在 SOP1 模式下上电
    • TAP 被重置并遍历以下状态:

    TEST-Logic-Reset→Run-Test/Idle→Select-DR-Scan IR→Select-DR-Scan→IR→IR。

    • 在 Shift-Series 中 IR、我们应用了一个已知位序列(1010…) 在 TDI 上。
    • 8 个 TCK 周期后、TDO 上出现相同的序列。

    这样可确认器件的 IR 长度为 8 位、BSDL 文件中也提到了相同的长度

    请参阅随附的仿真图和上升沿数、以在 TDO 获得输出




    此致、
    Rijohn

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    你好、Rijohn、

    感谢您发送此邮件 — 请勿关闭此案例。 我们需要了解您为什么会看到不同的趋势  

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    对不起 — 我没有登录,这完成了我的评论!

    我们需要了解您为什么看到不同的行为,我们的客户看到.

    您能否询问您的同事他们看到设备返回了什么 IDCode?  当他们看到一个 8 位 IR 寄存器时、可能也会看到在原始 BSDL 文件中指定的 IDCode。

    要读取 IDCode、请转到 Test Logic Reset、转换到 DR Shift、然后应用 32 个监测 TDO 的 TCK。

    我会在我们这边做更多的调查。

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    您好、Stuart、

    [引述 userid=“251618" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1557833/am2634-issue-running-boundary-scan-test/6054070

    您能否询问您的同事他们看到设备返回了什么 IDCode?  当他们看到一个 8 位 IR 寄存器时、可能也会看到在原始 BSDL 文件中指定的 IDCode。

    要读取 IDCode、请转到 Test Logic Reset、转换到 DR Shift、然后应用 32 个监测 TDO 的 TCK。

    [/报价]

    当然,我会检查 DFT 工程师,并 在下周中旬回来(延迟,因为它 是纳瓦拉什里节+甘地 Jayanthi 假期在印度)。

    此致、
    Rijohn

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    您好 Rohit、

    我们已经开展了更多调查、我们能够访问 8 位指令寄存器、这与您同事共享的信号捕获一致。

    我们不知道为什么这不适用于不同客户的设计、但现在我们很乐意继续。  遗憾的是、我们在下一步中被阻止。

    由于能够将指令加载到器件中以选择不同的数据寄存器、因此我们无法通过这些选定的寄存器移动数据。

    我们已经尝试在样本中通过边界扫描寄存器移动数据、并尝试在器件处于旁路状态的情况下通过旁路寄存器移动数据。  在这两种情况下、我们都无法通过器件将我之前提到的标记移回 TDO。

    您的同事要调查的最简单的情况是旁路寄存器、因为它只有一位宽。  也就是说、我们注意到 BSDL 文件 (0b01111110) 中给出的旁路指令不符合 JTAG 标准。  该标准定义旁路指令应为全 1。

    您能否请您的同事评论该指令的相关内容、还可以要求设备在加载此指令时未传递视为旁路寄存器的数据。

    非常感谢

    Stuart

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    你好、Rijohn、

    首先,在我的最后一篇文章中得到你的名字错误的道歉 — 最令人上瘾!

    发布此帖子的主要原因是为了强调我们已在 AM263P4 上完成了最新测试。  我相信、我们看到的类似行为意味着问题遍布整个家庭、但我想确保您在寻求解决该问题时拥有所有的信息。

    我想强调的是、这现在是一个紧迫的问题、因为我们有一个联合客户正在等待能够测试电路板的生产运行。

    非常感谢。

    Stuart

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    您好、Stuart、
    “我是你的,我是你的,占有我吧。“  
    我正在 AM261 上进行仿真、AM263/AM263P 和 AM261 的测试抽头架构完全相同。

    我执行了 JTAG 扫描以验证旁路寄存器功能。
    •BYPASS 指令 (0x7E→binary 01111110) 被移入指令寄存器 (IR)。
    •随附的波形快照显示了转换到 Shift-VCO IR 状态的情况、随后器件在 IR 阶段后进入旁路指令状态。
    •接下来、我进入了 Shift-DR 状态。 在此阶段、移入 TDI 的数据将在一个时钟周期后恰好出现在 TDO 上、从而确认旁路寄存器预期的 1 位行为。

    这验证了器件是否将 0x7E 指令正确解释为旁路、以及 JTAG 链是否按预期运行。

    请找到随附的基准波形。

    谢谢、

    Arshad

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    您好、Arshad、

    感谢您进行测试并发送屏幕截图。  我报告此问题的同事已进行了更多测试并确认了您的调查结果。

    我的同事报告说、器件在样本模式下不会进行超扫描;但我们正在解决此问题。

    我认为最好更新 BSDL 文件以突出显示出现的问题(器件在通过测试逻辑复位时未选择正确的状态(可能是损坏的 IDCode 寄存器而不是旁路)、 示例中的数据未通过 BSR 扫描,并且存在合规性值 — 我知道这些值已作为最新 BSDL 文件的注释添加,但应在文件的语法中指定)。

    非常感谢您对本设备的帮助、尤其是我必须接受我们提供的某些信息不正确。