Other Parts Discussed in Thread: TMS570LC4357, UNIFLASH
Thread 中讨论的其他器件： UNIFLASH
工具/软件：
我们在定制电路板中使用 TMS570LC4357、并通过 Uniflash 和 XDS200 USB 调试探针刷写、在某些情况（板）中、我们会在 CCS 测试连接窗口中收到以下错误
[开始：Texas Instruments XDS2xx USB 调试 Probe_0]
执行以下命令：
%CCS_BASE%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafile%-rv -o -S integrity
【结果】
----- 【打印线路板配置路径名】------------------------------------
C：\Users\pnagesh\AppData\Local\TEXASI~1\
CCS\ccs1271\0\BRDDATAC\testBoard.dat
----- 【打印重置命令软件日志文件】------------------------------------
此实用程序选择了 560/2xx 级产品。
此实用程序将加载程序“xds2xxu.out"。“。
库构建日期为“2024 年 4 月 19 日“。
库构建时间为“18：50：34“。
库软件包版本为“12.7.0.00130"。“。
库组件版本为“35.35.0.0 “。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为“13"（“(0x0000000d)。
控制器的插入长度为“0"（“(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。
----- 【打印重置命令硬件日志文件】------------------------------------
此模拟器不会创建重置日志文件。
----- 【发生错误，此实用程序已中止】------------------------
此错误由 TI 的 USCIF 驱动程序或实用程序生成。
值为“-233"（–233(0xffffff17“0xffffff17)。
标题为“C_ERR_PATH_BROKEN “。
解释如下：
JTAG IR 和 DR 扫描路径无法循环位、它们可能会损坏。
尝试扫描 JTAG 扫描路径失败。
目标的 JTAG 扫描路径似乎已损坏
或零卡滞故障的情况下运行。
[结束：Texas Instruments XDS2xx USB 调试探针_0]
在 Uniflash 中、出现以下错误
出现此错误后、我们根本无法恢复此 TMS570、它根本不允许擦除、调试或加载。
任何人是否可以提供可能是恢复的原因和解决方案？
