[参考译文] TMS570LC4357-SEP：对引脚端接的阐释

尊敬的 Dhir Gandhi：

对延迟的回复表示歉意！

虽然搜索的文档中并不直接提供引脚 R12 和 R13 的特定辐射测试信息、但耐辐射设计的通用实践建议：

• 而不是使用浮动状态
• 实施适当的上拉或下拉电阻、以在潜在辐射事件期间保持已知状态
• 在辐射引起的效应的情况下考虑引脚的失效防护状态

• 对于未使用的引脚端接、请遵循数据表中的器件特定建议
• 考虑辐射环境、并根据所需的失效防护状态实施适当的上拉或下拉电阻器
• 确保引脚不悬空、这可能会在辐射事件期间导致未定义的状态

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此致、
Jagadish。

您好 Jagadish、
感谢您的答复。 但是、我想请您再次查看我的问题、因为所提供的建议不能解决我的问题。

[引用 userid=“524805" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1575115/tms570lc4357-sep-clarification-on-pin-termination/6072158

• 对于未使用的引脚端接、请遵循数据表中的器件特定建议

[/报价]

此外、我无法在数据表中找到任何有关引脚端接的建议。

最后、我恳请不要使用 AI 工具来生成响应。 我在 E2E 上发帖是为了得到深思熟虑且有用的答案、即使这需要额外的时间。

尊敬的 Dhir：

对延迟的回复表示歉意。

您是对的、我使用了我们的内部 TI 工具、此工具的优势是随我们的所有 e2e 数据库以及所有手册一起提供的。 在生成它的响应后,我验证并发现它是有意义和正确的。 这就是我向你们分享的原因。

目前该器件没有进行任何正在进行的开发、并且提供的支持非常有限。 如果需要、我将尝试与内部团队核实以获得有关的回复、这可能需要一些延迟。

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此致、
Jagadish。

您好 Jagadish、
感谢您的回复。

我使用了我们的内部 TI 工具、该工具的优势是我们的所有 e2e 数据库以及所有手册。 在生成它的响应后,我验证并发现它是有意义和正确的。 这就是我向您分享的原因。

好的、但我仍然无法在数据表中找到任何引脚端接建议。 请帮我解决同样的问题。

如果需要、我将尝试与内部团队核实以获得对其的响应、这可能需要一些延迟。

请与内部团队核实。