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[参考译文] AM2634-Q1：AM2634-Q1：ADC 输入电容与硅片变化间的关系

admin
Guru**** 2692745 points
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1593118/am2634-q1-am2634-q1-adc-input-capacitance-vs-silicone-changes

器件型号： AM2634-Q1

大家好：  
我在 TI 文档中仍然没有找到任何有关 AM2634COKFHMZCZRQ1 ADC 输入容量的信息。
我已经注意到我们的 ADC 测量中存在某个偏移、我想知道该偏移是否是由从器件 1.0 到硅 1.0A 到器件 1.1 的变化引起的。

以下语句是否仍然有效：
Ron = 1.2k Ω（采样/保持电阻）
Chold = 8 pF（采样/保持电容）
CP = 7 pF（寄生分流引脚电容）

此致、
Bernhard

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    TI__Guru**** 2692745 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Bernhard：

    对此处延迟的回复表示歉意。 原始派遣人员是出差人员、因此忽略了线程重新分配。

    我很高兴能在这里帮助您。

    您提供的有关 ADC 输入模型参数的值是正确的。 请注意、此处的 Cp 是典型的寄生电容值、其中包括：焊球/Pkg/BondWire + ADC 模拟设计寄生效应+物理器件寄生效应。 这意味着您可以假设 ADC 输入电容为 7pF。  

    对 ADC 以及 SR1.0/SR1.0A 和 SR1.1 之间的关联模拟多路复用器 (CIO) 子系统进行了各种更新。 我分享了下方器件勘误文档的屏幕截图、其中说明了已解决的问题。

    当然、这些变化可能会对失调电压测量产生影响。

    此致、

    Zackary Fleenor