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[参考译文] MSPM0G3507:无法对 MSPM0G3507SRHBR 进行编程

Guru**** 2753335 points

Other Parts Discussed in Thread: LP-MSPM0G3507, LP-XDS110ET, MSPM0G3507, UNIFLASH

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1601781/mspm0g3507-not-able-to-program-mspm0g3507srhbr

器件型号: MSPM0G3507
主题中讨论的其他器件: LP-XDS110ETUNIFLASH

嘿!  

我已经在使用 MSPM0 MCU 工作了一段时间。 我在开发的大多数部分都使用了 LP-MSPM0G3507。 遵循 LaunchPad 用户指南的第 2.3.6 节、我正在尝试使用 LP-MSPM0G3507 ET LaunchPad 上的 XDS110-MSPM0G3507 对外部 MSPM0G3507SRHBR 芯片进行编程。

移除所有 J101 跳线
连接的 J102 SWDIO ->目标 SWDIO (PA20)
已连接 J102 SWCLK ->目标 SWCLK (PA19)
连接 GND


尝试初始连接/编程时出错:

CS_DAP_0:连接到目标时出错: DAP 连接错误。 这可能是由于器件进入低功耗模式。 尝试强制外部复位。如果错误仍然存在、请尝试强制 BSL、批量擦除或恢复出厂设置。 有关更多信息、请查看器件常见问题解答。  

我正在尝试刷写一个以前未刷写的新芯片。  

是否必须进行 NRST 连接? 我当前的硬件有 NRST 直接连接到 VDD、没有测试点。 我需要确认是否需要返修硬件、然后再继续。  

谢谢你。

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    尊敬的 AB:

    如何为您的硬件供电? (通过 XDS110 ET 还是非 EVM)?

    您是否尝试过按照本指南恢复器件出厂设置?

     MSPM0G3507:将器件复位为出厂设置 

    在硬件设计方面、复位连接更优选择、但不是强制性的。

    谢谢!

    此致

    Johnson

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    你好,谢谢你的答复。  

    我不通过 XDS110 供电、硬件是单独供电的。 我检查了引脚 4 处的电源、它与 预期的 3.3V 一样。

    我尝试了这个 MSPM0_RTOS Factory_Reset_Tool 工具、但它无法识别我的器件(未连接)。

    我能够做一些工作,并获得了一个上拉在 NRST 现在当我尝试编程它通过手动探测我的 NRST 每次我得到以下之一:

    连接到目标时出错:(错误–615 @ 0x0)目标无法看到正确格式化的 SWD 标头。 与目标的连接可能不可靠。 尝试降低 TCLK 设置、然后重试。 (仿真包 20.1.0.3429)  

    或者、

    CPU 子系统复位失败:(错误–1001 @ 0x0)此器件不支持请求的操作。 (仿真包 20.1.0.3429)
    错误:连接到 MSPM0 内核失败。 可能的根本原因:1) 使用密码禁用或启用了 NONMAIN 内的调试访问。 2) 外设配置错误(例如看门狗或时钟不正确)。 要查看问题的更详细诊断、请按下“读取引导诊断“按钮。

    或者、  

    CS_DAP_0:连接到目标时出错:DAP 连接错误。 这可能是由于器件进入低功耗模式。 尝试强制外部复位。如果错误仍然存在、请尝试强制 BSL、批量擦除或恢复出厂设置。 有关更多信息、请查看器件常见问题解答。
    在复位模式下检索等待失败:(错误–6311)PRSC 模块无法写入寄存器。 (仿真包 20.1.0.3429)
    连接到目标时出错:(错误–6311)PRSC 模块无法写入寄存器。 (仿真包 20.1.0.3429)

    或  

    CPU 子系统复位失败:(错误–2063 @ 0x0)无法复位器件。 对电路板进行下电上电。 如果错误仍然存在、请确认配置和/或尝试更可靠的 JTAG 设置(例如下部 TCLK)。 (仿真包 20.1.0.3429)
    JTAG 通信错误:(错误–615 @ 0x0)目标未能看到正确格式化的 SWD 标头。 与目标的连接可能不可靠。 尝试降低 TCLK 设置、然后重试。 (仿真包 20.1.0.3429)                                           CS_DAP_0:GEL:执行 PWRAP_DPREC0 时出现错误= PWRAP_DPREC0 | 0x00020000:无法读取寄存器 PWRAP_DPREC0:目标未连接在 (PWRAP_DPREC0|0x00020000)

    目前、我已将 TCLK 配置为 100.0KHz。

    在硬件设计方面、首选重置连接、但不强制要求。

    是的、数据表提到了相同的内容、但在我的例子中、两线制接口似乎不起作用。

    【编辑:在我收到的错误列表中添加了最新错误。】

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    当我尝试通过手动探测 NRST 对其进行编程时、我现在能够做一些工作、并在 NRST 获得上拉电阻:

    很抱歉这里的这些模糊信息。  

    最初、我的引脚 3 和引脚 4 短接 (NRST 和 VDD)、现在我设法切断布线、向 NRST 布线添加一个上拉电阻器、每当需要进行编程时、我 从 J102 引脚 10(来自 LaunchPad)连接另一根导线、并将其探测到电阻焊盘。

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    大家好、 A B 

    先检查一下、您是否使用此工具进行编程?

    https://www.ti.com/tool/LP-XDS110ET

    如果是、

    连接的 J102 SWDIO ->目标 SWDIO (PA20)
    已连接 J102 SWCLK ->目标 SWCLK (PA19)

    LP-XDS110-SWCLK 上不应有 SWDIO 和 ET、

    在底层、

    TMS = SWDIO

    TCK = SWCLK

    3V3 = 3V3

    GND = GND

    最好是连接

    nRST = NRST

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    你好、 

    [引述 userid=“571933" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1601781/mspm0g3507-not-able-to-program-mspm0g3507srhbr/6172618

    先检查一下、您是否使用此工具进行编程?

    https://www.ti.com/tool/LP-XDS110ET

    [/报价]

    我不使用专用的 LP-XDS110ET、而是使用 ET LP-MSPM0G3507 中提供的板载 XDS110-MSPM0G3507。

    是的、信号不是 SWDIO 和 SWCLK、它们是 TMS_ SWDIO 和 TCK_SWDCLK。

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    DAP 错误意味着 XDS110 无法连接到 MSPM0、请检查硬件。

    例如 MSPM0 的 3.3V 和 Vcore 电压。

    此外、您可以按照以下步骤尝试使 MSPM0 运气不佳:

    有关 CCS 解锁 MSPM0 的信息、请参阅 https://www.ti.com/lit/pdf/slaaed1 7.1.4 通过 CCS 解锁

     

    如果常见步骤(上述文档)不可行、请尝试对 MSPM0 重新供电、并使 PA18 保持为高电平、MSPM0 将进入 BSL 模式。

    然后尝试在 CCS 目标配置中连接 MSPM0 DPA 端口。 (显示所有内核–连接 DAP)。

    并在 Script(在 CCS 菜单中)中运行恢复出厂设置手动脚本。

     

    DAP connect:右键点击 CCS 工程中的 MSPM0G3507.ccxml 文件,启动无工程调试,菜单 — Script 中会有出厂选择

    1. 硬件检查、检查电源(客户定义,3.3V)、检查 Vcore 电压 (1.35V)。
    2. 检查 XDS110 与 PC 的连接、该连接位于 PC 的设备管理器列表中。
    3. 可选的固件、可确认 M0 是否在应用中运行。

    这将帮助您确认是否成功进入 BSL 模式。

    1. 方法 1:在 CCS 中运行恢复出厂设置自动脚本–目标配置
    2. 方法 2:连接 DAP、在 CCS 中手动运行恢复出厂设置脚本–目标配置(需要手动按下“复位“按钮)
    3. 方法 3:进入 BSL 模式、连接 DAP、然后在 CCS 中手动运行恢复出厂设置脚本–目标配置(需要手动按下“Reset"按钮“按钮)按钮)

     

    以下方法因信号质量问题而有助于降低 MSPM0 锁定频率:

    1. 缩短 XDS110 和 MSPM0 之间的调试电缆 (SWDIO 和 SWCLK) 的长度。

    在 20cm 以内是可以的、10cm 更好。

    1. 降低调试器 SWD 速度、双击.ccxml 文件、然后在 TI XDS110 USB 调试探针中更改速度
    2. 分别对 MAIN 区域和非 MAIN 区域进行编程
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    [引述 userid=“571933" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1601781/mspm0g3507-not-able-to-program-mspm0g3507srhbr/6172664
    • 硬件检查、检查电源(客户定义,3.3V)、检查 Vcore 电压 (1.35V)。
    • 检查 XDS110 与 PC 的连接、该连接位于 PC 的设备管理器列表中。
    [/报价]

    我在 VDD 的电压为 3.29 ~ 3.3、但我刚刚注意到我的 V_CORE 电压为 2.65V! 我认为这是导致我问题的原因。  

    我已经确认 VDD 和 VCORE 之间没有短路。 尽管我在 V_CORE 上使用 1uF 电容器、而不是推荐的 0.47uF、但我预计这只会影响启动时间、而不会导致如此显著的电压增加。  

    是否缺少任何其他导致 VDD_CORE 如此击穿的事件?

    谢谢你。  

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    [报价 userid=“678767" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1601781/mspm0g3507-not-able-to-program-mspm0g3507srhbr/6179938 ]我在 VDD 的电压为 3.29 ~ 3.3、但我刚刚注意到我的 V_CORE 电压为 2.65V! 我认为这是导致我问题的原因。  [/报价]

    开关断开、可能是由外部的高电压引起的。

    [报价 userid=“678767" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1601781/mspm0g3507-not-able-to-program-mspm0g3507srhbr/6179938 ]我预计这只会影响启动时间、而不会导致电压显著增加。  [/报价]

    是的、启动时间、最好使用 0.47 μ F。

    是否缺少任何其他导致 v_core 像这样启动的内容?

    并不清楚、但通常情况下、输出电压的增加是由物理损坏引起的、例如内部 1.35V LDO 击穿。

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    不清楚、但通常情况下、输出电压的增加是由物理损坏引起的、例如内部 1.35V LDO 的击穿。

    因此、如果我更换 MCU 没有错、应该会解决 CS_DAP 错误。  

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    因此、如果替换 MCU 没问题、替换 MCU 就可以解决 CS_DAP 错误。  [/报价]

    是的、您需要替换为新的 M0。

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    是的、您需要替换为新的 M0。

    可以了、谢谢。  

    是否有任何失效防护机制、寄存器级控制或配置保护措施来防止损坏内部 LDO?

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    是否有任何失效防护机制、寄存器级控制或配置保护措施来防止损坏内部 LDO?

    这应该是 由外部因素造成的物理损坏。

    最好检查开发条件、例如确保所有输入电压都在数据表规格范围内。

    通常情况下、Vcore 损坏并不是很常见。

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    是的、您需要替换为新的 M0。

    替换它确实解决了我的问题 — 我现在可以对设备进行编程。 但 V_CORE 不是 1.35V! 我更换并接通电源后、电压开始在 1.7V、使用几个小时后、电压增加到 2.04V。  

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    起始电压为 1.7V、使用几个小时后、电压增加到 2.04V。  [/报价]

    这是不可能的!

    VCORE 应保持在 1.35V、+/–10%是可以的、但最好保持在+/- 5%中。

    这是您的定制 PCB 板还是 TI LP-MSPM0G3507 的官方 EVM?

    Vcc 正常吗? 在规格 1.62 < VDD < 3.6V 内?

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    [引述 userid=“571933" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1601781/mspm0g3507-not-able-to-program-mspm0g3507srhbr/6182103

    这是不可能的!

    VCORE 应保持在 1.35V、+/–10%是可以的、但最好保持在+/- 5%中。

    [/报价]

    这是您的定制 PCB 板还是 TI LP-MSPM0G3507 的官方 EVM?

    定制 PCB、封装为 MSPM0G3507SRHBR(32 引脚)。  

    Vcc 是否正常? 在规格 1.62 < VDD < 3.6V?

    是、VDD 为 3.3V。

    更换 MCU 确实解决了我最初遇到的无法刷写程序的问题、但这也带来了一些新问题。 ADC 似乎不再工作。 我可以测量 ADC 引脚 (PA15、PA16) 上的电压、但在运行之前测试的代码时、无法读取任何电压。 我还尝试了将 ADC 基准从内部 VREF 更改为 VDDA、但没有区别。

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    ADC 似乎不再起作用。 我可以测量 ADC 引脚 (PA15、PA16) 上的电压、但在运行之前测试的代码时、无法读取任何电压。 [/报价]

    为了验证 ADC、可能需要测试引脚焊接是否良好、ADC 内核是否正常。

    尝试使用 ADC 对内部 Vdd 通道进行采样、首先验证 ADC 代码。

    此外、您可以尝试测量引脚电压(直接从封装的引脚测量)、这不是一种易于测试的方法...

    [报价 userid=“678767" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1601781/mspm0g3507-not-able-to-program-mspm0g3507srhbr/6182094 ]、但 V_CORE 不是 1.35V! 我更换并接通电源后、电压开始在 1.7V、使用几个小时后、电压增加到 2.04V。  [/报价]

    如果此现象仍然存在、请仔细检查您的硬件、并将其与 LP 开发板进行比较。

    此外、如果您使用的是样品单位、请申请新批次进行测试。

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    要验证 ADC、可能需要测试引脚焊接是否良好以及 ADC 内核是否良好。

    引脚焊接良好、需要检查 ADC 内核以对内部 VDD 进行采样。  

    如果此现象仍然存在、请仔细检查您的硬件并将其与 LP 开发板进行比较。

    有关此问题的新信息、我的设备再次停止闪烁代码。  

    现在、  

    上电时、V_Core 为 0.5V、当我连接 XDS110(来自 LP)时、电压升至 1.67 - 1.7。

    在之前、仅为器件供电时、V_Core 的值为~1.7。  

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    Vcore 应保持在 1.35V、+/–10%是可以的、但最好保持在+/- 5%。

    最初、我的引脚 3 和引脚 4 短接 (NRST 和 VDD)、现在我设法切断布线、在 NRST 布线上添加一个上拉电阻器、每当我需要编程时、我 从 J102 引脚 10(来自 LaunchPad)连接另一根导线、并将其探测到电阻器焊盘。

    我正在进行的返工是否会导致 V_CORE 出现问题? 我更换了 MCU 后、它工作了一段时间、但随后进入了热失控状态。

    我在电路板上测试了另一个、其中我没有进行上述任何修改、因为 V_CORE 电压为 1.35、但我仍然无法刷写电路板、因为 NRST 在不连接上拉的情况下连接到 VDD。 (我得到  CS_DAP_0:错误)  

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    我正在进行的返工是否会导致 v_core 出现问题? 更换 MCU 后、它工作了一段时间、但随后进入热失控状态。

    造成物理损坏的可能性很低、但在焊接过程中长时间暴露在高温下仍可能损坏芯片。

    我在我的电路板上测试了另一个、其中我没有完成上述任何返工、因为 V_CORE 电压为 1.35、但我仍然无法刷写电路板、因为 NRST 在没有上拉的情况下连接到 VDD。 (我得到  CS_DAP_0:错误) 

    至少 1.35V Vcore 显示此处没有物理损坏、但 DAP 连接错误始终由 1 引起。 SWD 连接问题;2. 非主存储器擦除问题。 对于#1、请检查硬件连接。 对于#2、需要更换一个新的 M0。

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    立即解决了 CS_DAP_Error、  

    JTAG 通信错误:(错误–1001 @ 0x0)此器件不支持所请求的操作。 (仿真包 20.1.0.3429)在断开连接之前无法从目标删除调试状态。 程序存储器中可能仍嵌入了断点操作码。 建议在连接并重新加载程序之前重置仿真器、然后再继续调试

    我通过.ccxml 设置的 JTAG TCLK 频率为 100KHz。

    之后、我尝试使用 MSPM0 MCU 开发指南 (修订版 G)复位电路板(拼盘->恢复出厂设置自动)。 我得到以下信息:

    CS_DAP_0:读取寄存器 SECAP_RCR 时出现问题:(错误–2131 @ 0x2020C)无法访问器件寄存器。 重置器件、然后重试此操作。 如果错误仍然存在、请确认配置、对电路板进行下电上电、和/或尝试更可靠的 JTAG 设置(例如下 TCLK)。 (仿真包 20.1.0.3429)
    CS_DAP_0:GEL:执行 GEL_DAPInit_SECAPCommand () 时出错:目标读取寄存器 SECAP_RCR 失败
    AT (REG':SECAP_RCR&0xFFFFU)[mspm0_cs_dap_init.gel:247]
    AT GEL_DAP Init_Wait ForResponse ()[mspm0_cs_dap_init.gel:426]
    在 GEL_DAPInit_SECAPCommand () 处

    我已经尝试过 — 对电路板进行下电上电,我有尽可能低的 TCLK 设置、没有提到任何寄存器“SECAP_RCR",“,我、我在 31.3.13 中只能找到“SECAPEN"</s>“

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    两种方法:  

    1.如果可用、CCS 将告诉您读取 bootdiag、如果可用、将其值发送给我。

    2.进入 BSL 模式并手动尝试恢复出厂设置,需要手动按下复位按钮。

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    以下是恢复 MSPM0 的常见步骤:

    CCS 解锁 MSPM0 +恢复出厂设置指南

    请参阅 https://www.ti.com/lit/pdf/slaaed1 7.1.4 通过 CCS 解锁

     

    如果常见步骤(上述文档)不起作用、请尝试执行以下步骤:

    在运行恢复出厂设置之前、对 MSPM0 重新供电。

    1. 进入 BSL 模式、连接 DAP 并运行恢复出厂设置

    在上电期间使 PA18 保持高电平、MSPM0 将进入 BSL 模式

    1. 使用 Reset 按钮运行手动恢复出厂设置脚本

    按住复位按钮、然后手动运行恢复出厂设置脚本、当日志指示您按下复位按钮时、释放复位按钮。

    DAP connect:右键点击 CCS 工程中的 MSPM0G3507.ccxml 文件,启动无工程调试,菜单 — Script 中会有出厂选择

     

    常见 MSPM0 锁定问题检查列表:

    1. 硬件检查、检查电源(客户定义,3.3V)、检查 Vcore 电压 (1.35V)。
    2. 检查 XDS110 与 PC 的连接、该连接位于 PC 的设备管理器列表中。
    3. 可选的固件、可确认 M0 是否在应用中运行。

    这将帮助您确认是否成功进入 BSL 模式。

    1. 方法 1:在 CCS 中运行恢复出厂设置自动脚本–目标配置
    2. 方法 2:连接 DAP、在 CCS 中手动运行恢复出厂设置脚本–目标配置(需要手动按下“复位“按钮)
    3. 方法 3:进入 BSL 模式、连接 DAP、然后在 CCS 中手动运行恢复出厂设置脚本–目标配置(需要手动按下“Reset"按钮“按钮)按钮)

     

    以下方法因信号质量问题而有助于降低 MSPM0 锁定频率:

    1. 缩短 XDS110 和 MSPM0 之间的调试电缆 (SWDIO 和 SWCLK) 的长度。

    在 20cm 以内是可以的、10cm 更好。

    1. 降低调试器 SWD 速度、双击.ccxml 文件、然后在 TI XDS110 USB 调试探针中更改速度
    2. 分别对 MAIN 区域和 NONMAIN 区域进行编程、对 MAIN 区域进行编程、验证 MAIN 区域、然后对 NONMAIN 区域进行编程。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    如果可用、CCS 将告诉您读取 bootdiag、如果可用、请将其值发送给我。

    过去 9 - 10 天的工作正常。 今天、 我遇到了以下错误:

    【错误】CORTEX_M0P:连接到目标时出错:连接到 MSPM0 内核失败。 可能的根本原因:1) 使用密码禁用或启用了 NONMAIN 内的调试访问。 2) 外设配置错误(例如看门狗或时钟不正确)。 要查看问题的更详细诊断、请按下“读取引导诊断“按钮。

    读取引导诊断显示以下内容:


    CS_DAP_0:器件诊断读取= 0x00010136
    CS_DAP_0:

    https://www.ti.com/lit/pdf/slaaed1 — 我已经完成了这个过程,尝试通过 CCS 和 UniFlash 进行复位 、但好像效果不好。  

    CS_DAP_0:读取寄存器 SECAP_RCR 时出现问题:(错误–2131 @ 0x2020C)无法访问器件寄存器。 重置器件、然后重试此操作。 如果错误仍然存在、请确认配置、对电路板进行下电上电、和/或尝试更可靠的 JTAG 设置(例如下 TCLK)。 (仿真包 20.1.0.3429)
    CS_DAP_0:GEL:执行 GEL_DAPInit_SECAPCommand () 时出错:目标读取寄存器 SECAP_RCR 失败
    AT (REG':SECAP_RCR&0xFFFFU)[mspm0_cs_dap_init.gel:247]
    AT GEL_DAP Init_Wait ForResponse ()[mspm0_cs_dap_init.gel:426]
    在 GEL_DAPInit_SECAPCommand () 处

    我已经多次尝试对电路板/调试器进行下电上电。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    CS_DAP_0:器件诊断读取= 0x00010136

    这种情况似乎是由于非主区域的数据损坏而永久锁定此 M0。

    建议在此处重新焊接一个新的 M0。

    对于非主编程、如果不运行恢复出厂设置、则在下载仅主项目时、非主项目不会被擦除。

    因此、为了 减少因非主数据丢失而导致的锁定、建议避免对非主数据进行编程。

    您可以维护两个工程、一个是非主修改工程、另一个是应用程序代码仅修改 MAIN 区域。

    在开发过程中、您只需下载一次 nonmain 工程、并对应用主工程进行多次编程以进行调试。

    此外、请检查 SWD 信号质量、检查 SWD 噪声并将调试电缆长度保持在 20cm 以内。