[参考译文] MSPM0G3519：MSPM0G3519：从 MEMRES0 读取数据时升高 UVIFG 标志（即使标志 MEMRESIFG0 之前已升高）

尊敬的 Khanh：

我已经对这种情况进行了一些测试、它与 ADC 结果回读通话记录有关。

我假设您使用以下内容来读取 ADC 存储器：

adc12->ULLMEM.MEMRES[idx];

使用 ull apeture 读取是异步的、以便 CPU 读取行为会导致 I test 时出现下溢标志。

调用以下 API 可以解决该问题：

__STATIC_INLINE uint16_t DL_ADC12_getMemResult(
    const ADC12_Regs *adc12, DL_ADC12_MEM_IDX idx)
{
    volatile const uint32_t *pReg = &adc12->ULLMEM.MEMRES[idx];

    return (uint16_t)(*(pReg + DL_ADC12_SVT_OFFSET));
}

SVT 孔径具有与 CPU 的同步时钟、可提供更快的同步寄存器访问行为、所有 SDK 相关 API 都使用 SVT 孔径读回 MEMRES 值。

B.R.

Sal

尊敬的 Khanh：

ADC 寄存器有两个访问路径。

ULL 连接使用 ULPCLK 作为时钟源、SVT 连接使用 MCLK 作为时钟源。

CPU 基于 MCLK、因此 在 CPU 访问 SVT 设备时会同步、 可以避免同步逻辑导致的潜在问题。

从您的 API 中、我看到您使用指向 MEMRES 地址的指针、然后您将其返回。 我是对的吗？

您可以在 SDK driverlib 中找到 API、我们在库中提供 SVT apeture 地址偏移量。

B.R.

Sal