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[参考译文] MSPM0G3519:MSPM0G3519:ADC 的自检模式

Guru**** 2782445 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1614024/mspm0g3519-mspm0g3519-self-test-mode-for-adc

器件型号: MSPM0G3519

尊敬的 TI 团队:

我想问一下、在 G3519 和 G3218 中、我们是否有任何功能来对 ADC 模块进行自检(除了 G3519 的 DAC 之外)。 目前、我希望在开始处理转换之前具备对 ADC 模块进行自检的功能。 我们是否可以选择内部电压基准并自行检查? 或者您是否有任何建议或方法来验证这一点?

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    您好 Khanh、

    只需确认 ADC 自检的详细信息:您要测试什么以及您希望获得的结果/目的。

    TI 可以保证 ADC 能够满足数据表中注明的规格。  

    BR、

    Janz Bai

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    如您所见、Vref 连接到通道 12、但我不确定此“测试“ADC、它应该只返回最大计数、我认为 ADC 有许多问题会这样做、更不用说、如果 Vref 关闭、ADC 将*仍然*仅返回最大计数。  

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    尊敬的 Janz:

    我有一项要求是对 ADC 通道进行自检。在对模拟输入引脚进行任何测量之前、这就像对 ADC 模块进行内部测试。 具体情况如下:

    我们将得到一个预定义的结果。 此自检将在特定通道上运行、以获取结果并与此预定义结果进行比较。 如果它们匹配、这意味着硬件中的 ADC 处于良好状态、可以继续读取模拟引脚上的 ADC。 否则、模块将向应用程序报告错误。
    在使用其他芯片 (Renesas) 的其他工程中、我们可以通过测量内部电压基准并比较结果来实现此目的。
    我已阅读功能安全手册、并指出可以使用 DAC 功能进行内部测试。 此方法的问题仅适用于 G3519、而不适用于 G3218。 因此、目前我正在尝试寻找一种方法来实现此自检功能

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    您好 Khanh、

    我想我已经明白你的意思了。 我想您可以参考 SDK 中的演示: ADC12_MONITOR_SUPPLY。 它使用 ADC 的内部通道监测 MCU 电源电压。 我想您可以使用这种方法来测试 ADC 是否正常工作。

    此致、

    Janz Bai