Other Parts Discussed in Thread: UNIFLASH
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器件型号： MSPM0G1107
Thread 中讨论的其他器件： UNIFLASH
尊敬的团队：
客户将我们的 G1107 用于其产品、并在大规模生产过程中遇到编程问题。
设备已进入锁定状态、无法通过标准方法恢复。
下面是我们从现场完成的编程 enviromnet 和调试结果。
请建议后续步骤以及如何找到根本原因。
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1.环境
TI XDS110 USB 调试探针
Code Composer Studio (v12.8.0.00012)
UniFlash (v8.6.0.4688)
2.症状和诊断结果
我们执行了以下测试、这些测试表明硬件连接正常工作、但闪存访问受到限制：
i. SWD 接口测试（成功）：CCS 中用于 SWD 模式完整性的“Test Connection“实用程序已成功通过。
II。闪存编程失败（错误–614）：尝试通过 CCS 或 UniFlash 刷写器件时、会出现以下错误：“连接到目标时出错：（错误–614 @ 0x0）
III.批量擦除恢复失败：我们尝试执行 MSPM0_MassErase 以强制恢复芯片。 但是、执行期间发生了寄存器访问错误：
读取寄存器 SECAP_RCR 时出现问题：（错误–2131 @ 0x2020C）无法访问器件寄存器。
根据上述症状、MCU 处于锁定状态、阻止正常编程
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附件是供您参考的测试结果。
CCS 和 UnitFlash 消息失败
此致、
Ben
