Other Parts Discussed in Thread: RM48L952
部件号: RM48L952
您好:
我正在使用 RM48 的 ADC 自检模式来确定 ADC 通道条件、例如开路、短路到 adRefHI/adRefLo。 在观察到传感器读数中存在大量噪声后、我们在 ADC 输入端使用 RC 滤波器进行滤波。 滤波器在输入端包括~6uF 的电容、这似乎会导致自检出现问题、因为外部电容器的放电速度不够快。 这将导致读取 Vd 和 Vu、在开路情况下与 Vn 值非常相似。
我们使用具有较长采样时间的外部电容器放电设置。 我们还尝试了调整 ADCLK、以便支持更长的采样时间/外部电容器放电周期。 我们似乎无法在限制范围(具有最大采样时间预分频器和外部放电预分频器的最慢 ADCLK 周期)内适当调整设置、并且希望在可能的情况下不要更改滤波器。
在自检测量之前、是否可以在用户定义的时间段内切换由 ADC 自检模式使用的内部 5k / 7k 电阻器? 例如、是否可以将“ADC_CALCR_self_TEST_VAL | ADC_CALCR_HILO_VAL“写入 CALCR 寄存器、然后等待 20ms、然后通过应用引起的延迟开始自检测量? 或者、是唯一通过使用放电外部电容设置来实现这一点的机制吗? 是否有其他方法可以引起长时间的外部电容放电 (~20ms)?
感谢您的帮助、
Tyler