[参考译文] RM48L952：RAM 诊断：双端口 PBIST 诊断测试失败

Other Parts Discussed in Thread: HALCOGEN, RM48L952

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1637220/rm48l952-ram-diagnostics-dual-port-pbist-diagnostic-test-failing

部件号： RM48L952
主题中讨论的其他器件： HALCOGEN、

尊敬的团队：

我遇到了一些问题、我想进行验证、因为它也出现在 sys_startup.c 中通过 Halcgen 生成的代码中。 我的主要目标是在单独的模块中提供与 RAM 相关的测试代码。

下面是附加代码片段：

#define RAM_DIAG_DP_PBIST_RINFOL                        \
 ((uint32_t) 0x00000000U /* EMAC RAM */                     \
  |(Uint32) 0x00000000U /* USB RAM */                     \
  |(Uint32) 0x00000800U /* DMA RAM */                     \
  |(Uint32) 0x00000200U /* VIM RAM */                     \
  /*|(Uint32) 0x00000040U MIBSPI1 RAM（未通过“或“运算整合到掩码中）*/         \
  /*|(Uint32) 0x00000080U MIBSPI3 RAM（未通过“或“运算整合到掩码中）*/         \
  /*|(Uint32) 0x00000100U MIBSPI5 RAM（未通过“或“运算合并掩码）*/         \
  |(Uint32) 0x00000004U /* CAN1 RAM */                     \
  /*|(Uint32) 0x00000008U CAN2 RAM（未通过“或“运算整合到掩码中）*/           \
  /*|(Uint32) 0x00000010U CAN3 RAM（未通过“或“运算整合到掩码中）*/           \
  /*|(Uint32) 0x00000400U ADC1 RAM（未通过“或“运算合并为掩码）*/           \
  |(Uint32) 0x00020000U /* ADC2 RAM */                     \
  /*|(Uint32) 0x00001000U HET1 RAM（未通过“或“运算整合到掩码中）*/           \
  /*|(Uint32) 0x00040000U HET2 RAM（未通过“或“运算放大掩码）*/           \
  /*|(Uint32) 0x00002000U HTU1 RAM（未通过“或“运算整合到掩码中）*/           \
  |(Uint32) 0x00080000U /* HTU2 RAM */                     \
  |(Uint32) 0x00004000U /* RTP RAM */                     \
  |(Uint32) 0x00000000U /*帧 RAM */)

#define RAM_DIAG_DP_PBIST_ALGO                         \
 ((Uint32) PBIT_March13N_DP /* 0x004 */                   \
  |(Uint32) PBI_DOWN1a_DP /* 0x010 */                   \
  |(Uint32) PBIT_MapColumn_DP)/* 0x040—总计 0x054 */

/**相位 2：双端口 PBIST + checkRAMECC（在 PBIST 同时运行
  * 在外设 RAM 上运行—TRM§7.6.1 和§7.6.2 序列）。
  * ALGO = RAM_DIAG_DP_PBIT_ALGO (0x054)：March13N_DP | Down1A_DP |
  * MapColumn_DP. MapColumn_DP 对于双端口 RAM 是必需的。 */


  静态 void ram_diag_phase_dpbist_ecc (void)｛
   pbistRun (RAM_DIAG_DP_PBIT_RINFOL、RAM_DIAG_DP_PBIT_ALGO)；

   checkRAMECC()；

   /*SAFETYMCUSW 28 D 先生:不适用 “硬件状态位读取检查“*/
   while (pbistIsTestCompleted()！= true){
   }/*等待*/

   if (pbistIsTestPassed()！= true ){
    /*在 pbistFail()—pbistFail() 之前捕获诊断寄存器
    *从不返回（调用 memoryPort0TestFailNotification 可能循环）。
    *快照存储在 s_pbist_fail_snapshot 中;可在调试器下读取。
    * rgs = s_pbist_fail_snapshot.ramt >> 24 标识发生故障的 RAM 组。 */
    RAM_diag_pbist_registers_read (&s_pbist_fail_snapshot.fsrf0、
                   &s_pbist_fail_snapshot.ramt)；
    pbistFail()；
   }

   pbistStop()；
  }

在 RAM_DIAG_DP_PBIST_RINFOL 宏内部、当 I 启用任何外设的存储器偏移时、它会失败、否则会随着当前配置传递。 我想提的是、所有外设都已通过哈可根启用。 如果我们需要实施任何具体的解决方案、或者这是已知问题、请告诉我。

此致