器件型号: AM625-Q1
您好:
由于最近 NAND 芯片发生变化、我们需要启用最后一页的坏块标记扫描。
为了便于参考、要检测/标记坏块、我们需要检查 块的第一页、第二页和最后一页(页 0、1、63) 。
在浏览 U-Boot 软件包 (SDKLA AM62x (v10.01.10.04) 中的`nand_base.c`文件时、我们发现可以通过启用 NAND_BBT_SCANLASTPAGE 芯片选项来启用最后一页扫描选项。
然而,在分析和测试功能的过程中,我们发现了一个错误,阻止此功能正常运行。
如上图所示、如果 NAND_BT_SCANLASTPAGE 和 NAND_BT_SCAN2NDPAGE 都启用、则会导致以下错误行为:
- 标记选定块的最后一页
- 标记 下一个块的第一页
坏块检查功能中也存在类似的逻辑错误。
为了解决该问题、我们在以下文件中添加了以下修改(为便于使用,请将 .txt 文件转换为 .patch 文件):
nand_base.c 0001-NAND-Bad-Block-Management-Fix.txt
如果此更改/修复有任何问题、请告知我们。
