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器件型号： TMS570LS3137
您好：
根据工程演示和推荐、我们为 SW 实施了一个启动序列、其中包含一些用于验证初级 MCU 功能（CPU、PBIST 等）的测试。 正常工作。
对于其中的几项测试（见下文）、在发生故障时、我们实施了无穷大的循环反应、以避免在没有复位机制的情况下运行更多应用程序。
为了增强我们的软件并尽可能避免“拒绝服务“（因为在失败的情况下会出现无限循环）、我想知道您是否有任何建议如何处理这些故障、或者我们是否可以继续（在可能的情况下）启动应用程序？ （日志警告，否则，...）
以下是 MCU 启动时的相关测试：
- PLL 故障：_errata_SSWF021_45_BOTH_PLLs (PLL_retries)！= 0U。
- ESM 组 3 错误
- PINMUX 寄存器：写入和读取测试。
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STC 和 CPU 自检。
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PBIST SRAM、STC ROM、ROM 自检。
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CCMR4F 自检：(CCMR4F_SELF_TEST/CCMR4F_ERROR_FORCED_TEST/CCMR4F_SELF_TEST_ERROR_FORCED)谢谢！此致、Marc