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[参考译文] AM2434:60 通道光学测量仪器的 ADC 和热控制指南

Guru**** 2999690 points

Other Parts Discussed in Thread: AM2434

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1668779/am2434-adc-and-thermal-control-guidance-for-a-60-channel-optical-measurement-instrument

器件型号: AM2434

尊敬的团队:

代表我们的客户发帖。

我将与我们的客户分享此帖子、以便他在需要时回复。

我们正在开发一款使用闭环热循环执行 60 通道荧光测量的便携式实验室仪器、并选择 AM2434 作为生产控制器。 三个问题:

1—ADC 配置。 我们需要通过具有跨阻放大器的光电二极管对 60 个光学通道进行采样、采样速率大约为每秒 1 个样本、需要大约 14 位的有效分辨率。 您是否会推荐具有序列发生器和外部多路复用器的集成 ADC、或者通过 McSPI 连接外部 Δ — Σ ADC? 是否有任何关于在该分辨率下实现稳定低噪声读数的指导?

2—闭环热控制。 我们要求在 25–95°C 循环范围内具有±0.3°C 精度、并通过具有热敏电阻反馈的 ePWM 来驱动加热器和珀耳帖元件。 是否有有关 Cortex-R5F 内核上 PID 温度控制的参考设计或应用手册?

3—模拟和 PWM 共存。 该仪器运行高电流 PWM 进行加热、同时对低电平光电二极管信号进行采样。 是否有有关布局、接地或时序策略的现有指导(例如,将 ADC 采样与 PWM 关闭周期同步)、以防止开关噪声离开模拟前端?

非常感谢任何相关的参考设计、应用手册或评估板建议。

此致、

Danilo

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Danilo、

    感谢您的提问。 请允许我花些时间来研究这个问题、我明天会向您回复一份最新信息。

    此致、
    Karam

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Danilo,

    AM2434 集成 ADC 在 ALV/ANI 封装上具有 12 位分辨率、在 ALX 封装上具有 10 位分辨率。 为了满足更高的分辨率要求、您可能需要探索 McSPI 上的外部 ADC 选项。

    2.没有 AM2434 特定热 PID 参考设计。 但是、 AM243x 数字控制库 提供了用于在 R5F 内核上实现的 PI 和 PID 控制器。  

    3. TI 没有关于特定于此应用的布局的指南。 AM2434 ePWM 模块提供 PWM_SOCA 和 PWM_SOCB 转换启动信号、可用于触发外部 ADC、这可能对您的应用有用。 有关更多信息、请参阅 AM64x/AM243x 技术参考手册的第 12.4.3.3.1.3 节“ ADC 转换启动信号 (PWM_SOCA 和 PWM_SOCB)“。

    关于信号完整性问题、TI 的这个通用指南可能很有用、因为它概述了 PCB 分区和返回电流路由 、以防止数字噪声耦合到模拟电路上:揭秘的混合信号系统接地、第 1 部分和第 2 部分。

    此致、
    Karam