[参考译文] TM4C129XNCZAD：我可以控制电平敏感中断的最小脉宽吗？

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https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1115875/tm4c129xnczad-may-i-control-the-minimum-pulse-width-of-a-level-sensitive-interrupt

器件型号：TM4C129XNCZAD

我们使用 USB 接口连接到 PC。
当我们将其发送到 ESD 测试，时、VBUS 信号受 ESD 影响。
因此连接不稳定。

我可以控制电平敏感中断的最小脉冲宽度来消除 ESD 的影响吗？
我想需要10ms 或更长的时间。

3 年多前

0 admin 3 年多前

TI__Guru**** 2391185 points

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您好！

[~用户名="524018" url="支持/微控制器/基于 ARM 的微控制器组/基于 ARM 的微控制器/f/基于 ARM 的微控制器-论坛/1115875/tm4c129xnczad-mo-I-control-the-minimum-***-the-the-wel-of a-level-sensitive interrupt]可以有效地消除 ESD 控制的最小脉冲宽度？
[/报价]

您能不能详细说明一下 VBUS 信号是如何受到影响的、以及从 USB 模块的角度来看、它的后果是什么。所有中断都是边沿触发的。不确定为什么您提到电平敏感型中断。

您是否有机会查看 TM4C129系统设计指南？如果没有、请浏览有关 USB 电路板设计的文档。

基于 Arm 的微控制器（参考译文帖）

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[参考译文] TM4C129XNCZAD：我可以控制电平敏感中断的最小脉宽吗？