[参考译文] TMS570LC4357：TMS570LC4357：FLA12空闲状态奇偶校验续

尊敬的 Max：

[~引脚 userid="430202" URL"/support/microcontrollers/arm-based microcontrollers-group/arm-based microcontrollers/f/arm-based microcontrollers-forume/1112402/tms570lc4357-tms570lc4357-fla12-idle-state-sensit-test-continue"(Q1)我感到困惑。 为什么应该使用 CPU 互连子系统来具体测试闪存的空闲奇偶校验(我们单独进行此操作)？[/quot]

我们使用 FPAR_OVR 选择奇偶校验器。 奇偶校验机制被反转、校验器将生成奇偶校验、并报告给 ESM 和闪存状态寄存器。

奇偶校验错误也可以使用  SCM 触发。  

[引用 userid="430202" URL"~/support/microcontrollers/arm-based microcontrollers-group/arm-based microcontrollers/f/arm -based microcontrollers-forum/1112402/tms570lc4357-tms570lc4357-fla12-idle-state-status-parit-test-continue"](Q2)(par)是通过选择"par_req_test_a "来触发 OVR_cruit"、然后不是通过设置 OVR_par_quisit_key"来设计的 FP_cruit"

FPAR_OVR 设计用于奇偶校验。

[引用 userid="430202" URL"~μ C/support/microcontrollers/arm-based microcontrollers-group/arm-based microcontrollers/f/arm-based microcontrollers-forume/1112402/tms570lc4357-tms570lc4357-fla12-idle-state-sensit-test-continue"] Q3)是否可以提供完整的诊断说明？

我们使用 PAR_OVR 选择奇偶校验器：

空闲状态奇偶校验器

2.命令奇偶校验器

3.内部  地址奇偶校验器

这是我的测试：

空 ParityTest_Flash()
｛
//闪存奇偶校验诊断测试
SL_flashWREG->FPAR_OVR = 0x15A00；//空闲状态奇偶校验；ESM 2.17；PortAErrStatus=0x4000
readValue =*(uint32_t *) 0x00000000；
sl_esmREG->SR1[1]= 0x00020000；
sl_esmREG->SSR2 = 0x20000；
SL_flashWREG->FEDAC_PASST = 0x4000；//在空闲状态中检测到奇偶校验错误。

SL_flashWREG->FPAR_OVR = 0x25A00；//命令奇偶校验器；ESM 3.13、PortErrStatus=0x400
readValue =*(uint32_t *) 0x00000000；
sl_esmREG->SR1[2]= 0x00002000；//地址奇偶校验错误/内部奇偶校验错误
SL_flashWREG->FEDAC_PASSTATUS = 0x400；//地址奇偶校验错误标志。

SL_flashWREG->FPAR_OVR = 0x35A00；//内部地址奇偶校验器；ESM 3.13、PortErrStatus=0x400
readValue =*(uint32_t *) 0x00000000；
sl_esmREG->SR1[2]= 0x00002000；//地址奇偶校验错误/内部奇偶校验错误
SL_flashWREG->FEDAC_PASSTATUS = 0x400；//地址奇偶校验错误标志。

SL_flashWREG->FPAR_OVR = 0x05400；
SL_flashWREG->FEDAC_PASSTATUS = 0xFFFFFFFF；
sl_esmREG->SR1[1]= 0xFFFFFFFF；
sl_esmREG->SR1[2]= 0xFFFFFFFF；
sl_esmREG->SSR2 = 0xFFFFFFFF；
｝