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您好!
请澄清以下对闪存仿真 EEPROM (FEE) 模块的疑问。
序号 | 器件 | 测试标识符 | 说明 |
1 | 闪存仿真 EEPROM (费用) |
FEE1 | 是否需要调用 sl_Init_ECCFlash? 如果检测到故障、是否发生 ESM 1.35和 ESM 1.36事件? |
2. | FEE2A、FEE2B | SL_CRC_Calculate 函数使用内部 CRC 模块计算 CRC。 是否需要为该测试完成任何 Halcogen 配置? | |
3. | FEE3 | 将发生哪种类型的 ESM 事件? | |
4. | FEE4 | 是否在引导时启用 ECC 保护? 是否需要调用任何 API 来启用闪存保护? 还是 Halcogen 配置? | |
5. | FEE7 | 将 发生哪种类型的 ESM 事件? | |
6. | FEE8. | FEE ECC 数据校正模式是否是执行此测试的正确测试类型? | |
7. | FEE9 | FEE ECC SYN_REPORT_MODE 是否是执行此测试的正确测试类型? | |
8. | FEE10. | FEE ECC 故障_MODE1是否是执行此测试的正确测试类型? | |
9. | FEE11. | FEE ECC 故障模式2是否是执行此测试的正确测试类型? | |
10. | FEE12. | 使用 F021闪存 API 写入仿真 EEPROM。 | |
11. | FEE13. | 如何对硬件 CRC 执行软件测试? | |
12. | FE14. | 如何执行此测试? 此功能是否在 RM48 MCU 内部? |
此致、
Monish P
大家好、我们的专家不在办公室。 请等待延迟回复。
1 | 闪存仿真 EEPROM (费用) |
FEE1 | 是否需要调用 sl_Init_ECCFlash? 如果检测到故障、是否发生 ESM 1.35和 ESM 1.36事件? |
FE1: FEE 数据 ECC。 程序存储器(闪存组0和组1)由 ARM Cortex-R4F CPU 内执行的 SECDED 逻辑保护。 到 EEPROM 仿真闪存组(组7)的访问由闪存包装程序内的专用 SECDED 逻辑保护。
CPU 和闪存包装程序内的 SECDED 逻辑缺省情况下不启用并且必须由应用启用。
当 CPU 在从闪存读取时检测到 ECC 单位或双位错误时,它会在专用的“事件”总线上发出此信号。 默认情况下、该事件总线信令也不启用、必须由应用启用。
SL_Init_ECCFlash()可用于启用 ECC 和事件总线信令。
ESM 1.35和1.36是 FEE 闪存的 ECC 错误的标志。
我稍后会回答其他问题