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[参考译文] RM48L952:闪存仿真 EEPROM (FEE)-安全诊断

Guru**** 2050740 points
Other Parts Discussed in Thread: HALCOGEN
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1064970/rm48l952-flash-emulated-eeprom-fee---safety-diagnostics

器件型号:RM48L952
主题中讨论的其他器件:HALCOGEN

您好!

请澄清以下对闪存仿真 EEPROM (FEE) 模块的疑问。

序号 器件 测试标识符 说明
1 闪存仿真
EEPROM
(费用)  
FEE1 是否需要调用 sl_Init_ECCFlash?
 如果检测到故障、是否发生 ESM 1.35和 ESM 1.36事件?
2. FEE2A、FEE2B SL_CRC_Calculate 函数使用内部 CRC 模块计算 CRC。 是否需要为该测试完成任何 Halcogen 配置?
3. FEE3 将发生哪种类型的 ESM 事件?
4. FEE4 是否在引导时启用 ECC 保护? 是否需要调用任何 API 来启用闪存保护? 还是 Halcogen 配置?
5. FEE7 将 发生哪种类型的 ESM 事件?
6. FEE8. FEE ECC 数据校正模式是否是执行此测试的正确测试类型?
7. FEE9 FEE ECC SYN_REPORT_MODE 是否是执行此测试的正确测试类型?
8. FEE10. FEE ECC 故障_MODE1是否是执行此测试的正确测试类型?
9. FEE11. FEE ECC 故障模式2是否是执行此测试的正确测试类型?
10. FEE12. 使用 F021闪存 API 写入仿真 EEPROM。
11. FEE13. 如何对硬件 CRC 执行软件测试?
12. FE14. 如何执行此测试? 此功能是否在 RM48 MCU 内部?

此致、

Monish P

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    大家好、我们的专家不在办公室。 请等待延迟回复。

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    [引用 userid="460445" URL"~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1064970/rm48l952-flash-emulated-eeprom-fee---safety-diagnostics "]
    1 闪存仿真
    EEPROM
    (费用)  
    FEE1 是否需要调用 sl_Init_ECCFlash?
     如果检测到故障、是否发生 ESM 1.35和 ESM 1.36事件?
    [/报价]

    FE1: FEE 数据 ECC。 程序存储器(闪存组0和组1)由 ARM Cortex-R4F CPU 内执行的 SECDED 逻辑保护。 到 EEPROM 仿真闪存组(组7)的访问由闪存包装程序内的专用 SECDED 逻辑保护。  

    CPU 和闪存包装程序内的 SECDED 逻辑缺省情况下不启用并且必须由应用启用。  

    当 CPU 在从闪存读取时检测到 ECC 单位或双位错误时,它会在专用的“事件”总线上发出此信号。 默认情况下、该事件总线信令也不启用、必须由应用启用。

    SL_Init_ECCFlash()可用于启用 ECC 和事件总线信令。  

    ESM 1.35和1.36是 FEE 闪存的 ECC 错误的标志。

    我稍后会回答其他问题