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[参考译文] TMS570LS1224:执行 TMS BIST 测试会影响输出引脚的状态

Guru**** 2540600 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1061381/tms570ls1224-do-the-tms-bist-tests-affect-the-state-of-outut-pins

器件型号:TMS570LS1224

建议与安全关键型项目(ISO26262)一起使用的任何测试是否会影响 TMS 输出引脚的状态?

我们特别关注的是启动期间 N2HET1引脚组的状态。

我们已经确定可能需要缩小环回测试的范围(以保护引脚的子集)、但我们不知道 BIST 测试是否在启动时运行(TI-Speak 中的引导时间) 可能会影响 PIN -这似乎不太可能、但无法找到将我们的想法置于静止状态的任何明确声明。

Marcus

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    您好、Marcus、

    LBIST 测试本身不会影响信号引脚的状态。 在 LBIST 测试完成后生成一个 CPU 复位。 PCU 复位将寄存器复位为默认值,并影响信号管脚(GIO、N2HET 等)的状态。

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    PCU 复位--> CPU 复位

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    QJ 您好、感谢您的确认。

    Marcus