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[参考译文] TMS570LC4357-EP：校验和内部闪存

admin
Guru**** 2468570 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS570LC4357-EP, TMS570LS3137, TMS570LC4357

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1052528/tms570lc4357-ep-checksum-internal-flash

器件型号：TMS570LC4357-EP
主题中讨论的其他器件： TMS570LS3137、 TMS570LC4357

您好！

在过去的项目中、为了检查软件所在的内部闪存的完整性、我们读取内部闪存的内容、并在其中应用专用校验和。 具体而言、我们使用异或字节到字节、位到位、并且在结束时会否定该校验和、以避免存储器空产生有效结果。

通过这种方法、我们使用 Motorola 格式(S3)的 EOC、然后将此文件加载到我们的 PC 应用程序中、该应用程序会读取并解析该文件、最后计算上述校验和。

为了成功完成向上检查、我们假设未使用的闪存部分为空(读取值为0xFFFFFFFF)。

当我们使用 TMS570LS3137时、该方法有效、但对于新版本(TMS570LC4357-EP)、它不起作用。 我的建议是由闪存上的 ECC 引起的。 正确吗？

那么、现在是否可以使用所有信息生成包含整个闪存(FLASH0)内容的十六进制文件？ 还是有其他方法采用相同的方法？

 

此致。

Domenico

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    TI__Guru**** 2468570 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的  Domenico：

    [引用 userid="312768" URL"~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1052528/tms570lc4357-ep-checksum-internal-flash 上的内容]我的建议是由闪存上的 ECC 引起的。 它是否正确？

    在 TMS570LC4357上、ECC 默认启用、不能禁用。

    [引用 userid="312768" URL"~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1052528/tms570lc4357-ep-checksum-internal-flash "]是否可以生成包含所有信息的整个闪存(FLASH0)内容的十六进制文件？ 或者是否有采用相同方法的另一种方法？

    您是否在 CCS 中尝试过十六进制实用程序？

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    TI__Guru**** 2468570 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    QJ

    感谢你的答复。

    [引用 userid="45190" URL"~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1052528/tms570lc4357-ep-checksum-internal-flash/3895041 #3895041"]您是否在 CCS 中尝试过十六进制实用程序？

    如我所述、我们使用 Motorola 格式的 EOC、这是十六进制实用程序的一部分。 在此文件中、只写入闪存的一部分。 我的问题是、是否可以生成包含 ECC 信息的整个闪存内容的十六进制文件(在示例0xFDFFFFFF 中、空部分并不总是设置为0xFFFFFFF、而是有时具有与0xFF 不同的字节)。

    在第二个实例中、UP 具有 CRC 模块、是否可以使用它来检查内部闪存的完整性？

    此致、

    Domenico

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    TI__Guru**** 2468570 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    [引用 userid="312768" URL"~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1052528/tms570lc4357-ep-checksum-internal-flash/3895165 #3895165"]在第二个实例中，UP 具有 CRC 模块，是否可以使用它来检查内部闪存的完整性？

    是的、通过计算所有闪存内容的 CRC 并将该值与之前生成的"黄金" CRC 进行比较、硬件 CRC 模块可用于测试闪存内容的完整性。 将闪存内容读取到 CRC 可由 CPU 或 DMA 完成。