[参考译文] TMS570LC4357-EP：关于&#39；不可纠正的错误类型 B&#39；以及 L2RAMW 的诊断测试程序

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1051538/tms570lc4357-ep-regarding-uncorrectable-error-type-b-and-diagnostic-test-procedure-of-l2ramw

您好！

这是有关 L2RAMW 的"不可纠正的错误类型 B"和诊断测试程序的问题。
我们现在在评估板上测试 TMS570 MCU 的 ESM 功能。

RAMERRSTATUS 的 DRDE (22)、DRSE (21)、DWDE (20)和 DWSE (19)可以使用以下测试代码验证操作。

易失性 uint64 sramEccTestBuff[2]=｛0x0u｝；
易失性 uint64* eccb1；
易失性 uint32* buffPtr；
l2ramwREG->RAMCTRL |=(1U <<20)|/* MSE */
(1U <<12)|/* EEMMS */
(1U <<4)；/* CPUWSC */
buffPtr =&sramEccTestBuff[0]；
eccb1 =&sramEccTestBuff[0]；
eccb1 = eccb1 +(0x00400000U / sizeof (uint64))；
l2ramwREG->RAMERRSTATUS = 0x00781C10；
l2ramwREG->DIAGDATAVECTOR_H =*缓冲 Ptr；
buffPtr ++；
l2ramwREG->DIAGDATAVECTOR_L =*缓冲 Ptr；
l2ramwREG->DIAG_ECC =* eccB1 ^ 0x03U；/* ECC 2位错误(0x03)或1位错误(0xCE)*/
l2ramwREG->RAMADDRDECVECT =(1U << 26 | 0xFFFFU)；// DESV | RAM_CHIP_SELECT */
l2ramwREG->ramtest =(UINT32) 0x0000004Au；/* 4->InEq.，测试模式，A->测试启用*/
l2ramwREG->ramtest |=(1U <<8)；/* 1->触发器*/

我们还想验证 MMDE (12)、WEMDE (11)、REMDE (10)、ADDE (4)。 为了能够生成这些误差源、我们应该如何实施测试代码？ 请提供建议。

谢谢、

好的