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[参考译文] TMS570LS3137:有关 SRAM 诊断的一些问题

Guru**** 2589275 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1047957/tms570ls3137-some-questions-about-sram-diagnose

器件型号:TMS570LS3137

,如下图所示、图片中是否以黄色标记了三个 SRAM 诊断、用于诊断 SRAM 永久故障、以及它们对 SRAM 永久故障的诊断覆盖范围是多少?

因为我们认为 PBIST 的定期诊断过于复杂、所以我想问是否还有其他用于永久性故障的诊断方法?

非常感谢您的回复,和致以最诚挚的问候。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Xiaohong、

    首先、请咨询 您的评估员。 评估员可请求定期 BIST 执行、以检测系统的累积潜在故障、该系统将在没有启动/关断序列的情况下长时间运行。 锁步和 ECC 只检查当前正在使用的资源。 如果您有一个很少使用 RAM 空间的 SW 函数、则可能会累积一些在您使用资源之前无法检测到的故障。 如果您没有这种函数或代码、则可以不执行周期性 PBIST 测试。