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器件型号：TMS570LS3137 您好，
(1)如果我想对 SRAM 进行诊断、请使用 PBIST 方法 periodic，我需要注意什么？
(2) 由于 PBIST 测试是破坏性测试，所以 我需要 保存用户数据，有64K*4 SRAM、四块 SRAM、我们的数据可能占用1 64K SRAM 就足够了、剩余的 SRAM 处于空闲状态、在周期诊断中、SRAM 1的数据能否复制到 SRAM2、 保存数据、然后诊断 SRAM1、在完成 SRAM1诊断后、将数据复制到 SRAM1并恢复数据。 此设计是否正常？ 我仍然对 SRAM 复制数据的速率有疑问。 您是否有此类测试数据？
