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[参考译文] TMS570LS3137:SRAM 诊断覆盖范围

Guru**** 2046040 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1047145/tms570ls3137-sram-diagnostic-coverage

器件型号:TMS570LS3137

HI,对于 SRAM 诊断、ECC 在周期诊断中被启用。 无法选择下图中的黄色部分。

(__LW_AT__1)这三个诊断项目是什么意思?

(__LW_AT__2)ECC 诊断可以保证软故障(软失效)、那么如何保证硬故障(硬失效)?

非常感谢。

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    您好、Xiaohong、

    这三种机制默认启用、不能禁用。

    RAM 2:

    活锁: 活锁是一种处理器流水线正在推进和执行指令的状态、但处理器重复执行相同的指令、因此它不会在程序中取得任何进展。 当在0x04的未定义异常向量处有一条欠完善的指令时、处理器永远不会推进程序流、从而引发活锁事件。 当 ESM 接收到活锁事件时、它能够以正常的方式创建一个到处理器的异步异常(例如 NMI 中断)。

    硬错误高速缓存:硬错误高速缓存在 CPU 内核内实现。  硬错误高速缓存是一个单入口高速缓存、用于记录具有可纠正错误的存储器位置。 假设 SRAM 在一个位置存在缺陷、当 CPU 再次从该位置读取时、它将具有相同的错误、如果没有硬错误高速缓存、则该错误将一直存在。 首次检测到 SRAM 中的可纠正错误时、存储器位置记录在硬错误高速缓存中。 如果 CPU 再次从同一地址读取、则首先检查硬错误高速缓存以查看是否存在匹配的地址。 如果存在匹配、则不会生成错误。  

    RAM6:

    每个逻辑 SRAM 字及其关联的 ECC 代码被拆分并存储在两个物理 SRAM 组中。 每个访问包含72位- 64位数据和8位 ECC 代码。  该方案为物理 SRAM 组中的地址解码故障提供了一种固有的安全机制。 组寻址中的故障被 CPU 检测为一个 ECC 故障。

    RAM8:

    SRAM 模块支持位复用方案。 一个 SRAM 位置的内容位的物理位置不相邻。 例如、位1不是位0的下一个单元格。
    该方案有助于降低物理多位故障导致逻辑多位故障的可能性。

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    有两种故障类型:系统故障和随机故障。

    1.系统故障以确定性方式发生、通常在产品设计和开发期间引入。

    2.随机故障 在设备的使用寿命期间任意出现。 随机故障可进一步分为两类:瞬态故障(或软错误)或永久故障(或硬错误)。 这些类型的故障通常由安全机制解决:

    PBIST 和 CRC 可用于检测安全关键型和汽车系统上的永久性故障。

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    您好,QJ,感谢您的回复。

    换言之、ECC 只能保证瞬态故障。 如果我们的系统需要检测永久性故障、我们只能使用 PBIST 或 CRC 检测。 对吧?

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    在与您通信之前、您说过不建议定期调用 PBIST、那么我们如何在程序运行期间检测永久性故障?