[参考译文] TM4C129CNCPDT：测试连接时的调试器问题

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1045173/tm4c129cncpdt-debugger-issues-when-testing-connection

您好！

我当前正在尝试调试程序。 但是、在测试我的连接时、我收到以下消息：

---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
测试1字0：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字1：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字2：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字3：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字4：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字5：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字6：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字7：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：1、跳过：0、失败：1
使用0x00000000执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
一些值已损坏- 83.3%。

JTAG IR 完整性扫描测试失败。

---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
测试1字0：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字1：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字2：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字3：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字4：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字5：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字6：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字7：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：1、跳过：0、失败：1
使用0x00000000执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
一些值已损坏- 83.3%。

JTAG DR 完整性扫描测试失败。

[结束：德州仪器 XDS100v2 USB 调试探针_0]

我使用的是 XDS100v2 USB 调试探针和 X60066-1 JTAG 接口。 如果需要其他信息、请随时在回复中告知我。

提前感谢！