[参考译文] TMS570LC4357：TMS570LC4357中的内部 RAM 存储器测试

是的、PBIST 可用于测试内部 MCU RAM。

外设 RAM 或 MCU SRAM 中的 PBIST 故障不会生成 ESM 错误。 当 PBIST 完成时、一个 PBIST 完成中断将被置为有效。

在使用 MCU SRAM 之前、请确保将其初始化为上电后的第一个操作。

谢谢、王。 将会检查它。

请阐明高速缓存存储器上的 PBIST 的特别注意事项以及所有位测试的顺序。

它与 PBIST 自检的步骤序列无关。

请将该查询视为：

考虑到 PBIST 自检、PBIST STC ROM 自检、PBIST ROM 自检、STC 自检、CCM 自检、TPRAM 自检等所有位、 L2RAMW ECC 测试、闪存 ECC 测试、L2RAMW 内存自检等、执行这些测试的顺序是什么？  

谢谢、

Tirumala。

我在 对 SRAM 执行存储器测试之前已对其进行初始化、虽然堆栈初始化在内存初始化之前完成、但这会导致堆栈初始化后出现问题。
您能建议问题的解决方案吗？

有关 Pbist 自检、请参阅 TMS570LSx 器件的 pbistSelfCheck()、或参阅安全诊断库(SDL)中的类似功能。

请阅读 SDL 的 TRM 和示例代码。

谢谢、王。

请您为此查询提供解决方案。

为了清零、在内部 SRAM 测试前后执行存储器初始化后、会遇到总线错误。

请找到所附的屏幕截图、其中在检查 PBIST 内部 RAM 测试的完整状态时遇到此错误。

pbiststop()中有一个软件错误。  HCG 生成的 pbistStop()函数缺少 PBIST 控制器的复位信号。 下面的函数是更新的 pbistStop()。 请更新 HALCoGen 生成的例程、以匹配以下内容。

是的、遵循了相同的例程。 在检查测试是否完成时，即使在执行 STOP_MEMORY_TES()之前，也会看到错误。

PBIST 测试的存储器组是否包括任何未实现的存储器组？ 例如 USB 存储器。 是否可以发布错误标志的值？ 如果您可以与我共享该代码、那会很有帮助。

您好、Wang、

请查找所配置寄存器的附加快照、以便在 L2RAMW 上运行内存测试。

执行 PBIST 之后、错误标志如下所示：

代码从 0x08000000h 位置运行。

执行 STC 自检后执行内部 RAM 存储器测试。

在检查内部 RAM 存储器自检是否完成时、会出现上述错误。

测试代码如下所示：

volatile uint32* const sys_regs = reinterpret_cast 0xFFFFFF00)；
volatile uint32* const pbist_regs = reinterpret_cast (0xFFFFFFE400)；

void main()

｛

//从 main 调用

布尔 test_status=false；

execute _pbist (0x30000000、0x00000004)；//这将执行测试，配置如上一次答复中附加的快照所示

while (！(is_test_complete())；//等待测试完成  

if ((！is_test_pached())||(！is_test_complete()))

｛

  test_status = true；  

｝

返回；

｝

bool is_test_complete()
｛
返回((sys_regs[MSTCGSTAT]& 0x1UL)！= 0UL)； //：MSTCGSTAT = 0x68
｝

bool is_test_pached()
｛
返回(0UL ==(pbist_regs[FSRF0]& 0x1UL)；//FSRF0 = 0x190
｝

在上面突出显示的代码中、代码轮询测试完成。 调用  is_test_complete()并返回到 main()后，出现总线错误。  

请注意、上述代码是我们要执行测试的代码的副本、并从0x08000000位置运行。

此外、您能否告诉我如何在测试前保存上下文以及在测试后检索上下文。 任何实现上下文保存的代码都将对我们有所帮助。

谢谢、

Tirumala。

当您在 MCU SRAM 上执行 PBIST 时、堆栈区域中的内容也将丢失。 这就是为什么在 HALCoGen 生成的 c_int00 ()中执行 SRAM pbist 测试的原因。

我没有保存 SRAM 内容的示例代码。 有两个 SRAM 组：第29组和第30组。 您可以分别为这2个组运行 pbist 测试。 测试组1时、您可以将其内容保存到组2内存中。

您能否为 L2RAMW 提供29和30组的内存范围？ 此外、请提供 RDS 和 RGS 之间的关系以及 L2RAMW 的存储器范围。

谢谢、

Tirumala。

• 您好、Wang、

假设组29从 0x80000v (L2RAMW)开始、组30 (L2RAMW ECC)在 0x8040000开始、我已将内容从0x800000000复制到大小为0x3FFFF 的0x8040000。 然后在组29上运行 PBIST、但仍然遇到总线错误。 请确认这些范围是否与上述查询一起正确。

- 作为另一个尝试，我尝试在 SDL 代码中_c_int00()的开头在两个组上执行 PBIST，如下所示：

void _c_int00 (void)
｛
/*初始化内核寄存器以避免 CCM 错误*/
SL_Init_R5Registers ()；

/*初始化堆栈指针*/
sl_Init_StackPointers()；

/*启用 CPU 事件导出*/
_sl_Init_EnableEventExport()；

/*初始化 RAM 内存*/
SL_Init_Memory (RAMTYPE_RAM)；

/*对 RaAM 组29和30执行 BIST */
SL_SelfTest_PBIST (PBIST_EXECUTE、0x30000000、PBISTALGO_MARCH13N_1端口)；

/*初始化 RAM 内存*/
SL_Init_Memory (RAMTYPE_RAM)；
SL_PBIST_FailInfo failInfoPBISTOhers；
while (true！= sl_SelfTest_Status_PBIST (&failInfoPBISTOthers))；
SL_SelfTest_PBIST_StopExec()；
SL_Init_R5Registers ()；
sl_Init_StackPointers()；
_sl_Init_EnableEventExport()；

//其余代码将根据 SDL 代码中给出的重置类型执行

｝

当尝试执行此操作时、代码停留在 while 循环中  

while (MEM_HW_INIT_COMPLETE！= BF_GET (SL_systemREG1->MSTCGSTAT、BF_MINIDONE_START、BF_MINIDONE_LENGTH)；

 在重新初始化期间在 sl_init.c 的 sl_Init_Memory (RAMTYPE_RAM)中。

请确认是否正确执行了此操作或要进行任何修改。

谢谢、

Tirumala。

您好、 Tirumala、

如果在启动期间对 SRAM 执行 PBIST、则无需将 SRAM 内容保存到其他位置、因为它不包含任何有用的数据(刚刚初始化)。  

如果您对 SRAM 执行定期 pbist 测试、则需要在开始测试之前保存 SRAM 内容。

您好、Wang、

您能回答上述问题吗？

TRM 和数据表给出了相当清晰的定义。 RGS 是存储器组、从一个存储器地址到另一个存储器地址。 RDS 是 RAM 数据路径。 存储器组的宽度较宽、可分为多个 RDS。  PBIST 引擎将一次评估/比较数据路径的每个 RDS。

我找不到组30的起始地址。 我想第29组和第30组的大小相同。 我稍后将编写一个测试用例进行检查、但需要一些时间。