[参考译文] TMS570LC4357：闪存 EEPROM ECC

您好！

闪存包装程序诊断模式7和诊断模式5可用于测试 ECC 逻辑。 CPU 中的相同 ECC 逻辑用于主闪存和 EEPROM。

您好、感谢您的回复。

 我尝试执行这些步骤。 请说明 我的以下几点

1. 诊断模式5： 地址标签寄存器测试模式是否也用于 ECC 测试？ 这是如何关联的？
2. 在步骤中、一个位提到了一个非闪存区域的分支。 它是指 0xF0000000到 0xF047FFFF 之间的闪存 ECC 区域吗？
3. 如果我选择端口 A、 端口 A 如何读取到所需的地址。 ？

不可以、diagmode 5用于测试地址标签。 它不用于 ECC 测试

2.应将测试函数复制到 SRAM 并从 SRAM 执行

端口 A 和端口 B 是总线主控访问闪存组的端口。